參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 絕緣電阻測(cè)試：使用500V/1000V直流電壓測(cè)量主回路對(duì)地及相間電阻值≥10MΩ

2. 工頻耐壓試驗(yàn)：施加2.5kV/1min（額定電壓≤690V）驗(yàn)證無(wú)擊穿或閃絡(luò)

3. 溫升試驗(yàn)：額定電流下測(cè)量觸頭/端子溫度≤65K（環(huán)境基準(zhǔn)40℃）

4. 短路耐受能力：驗(yàn)證額定短時(shí)耐受電流（Icw）10kA-100kA/1s條件下的穩(wěn)定性

5. 機(jī)械操作壽命：模擬2000-10000次分合閘動(dòng)作后保持功能完整

檢測(cè)范圍

1. 斷路器類：框架式斷路器（ACB）、塑殼斷路器（MCCB）、微型斷路器（MCB）

2. 接觸器與繼電器：電磁式接觸器（額定電流9A-630A）、熱過(guò)載繼電器

3. 熔斷器系統(tǒng)：低壓高分?jǐn)嗄芰θ蹟囿w（NH型/刀型）及底座

4. 配電柜組件：抽屜式開(kāi)關(guān)柜、固定分隔式柜體結(jié)構(gòu)件

5. 母線系統(tǒng)：銅/鋁制密集型母線槽（載流量630A-5000A）

檢測(cè)方法

1. GB/T 14048.1-2020《低壓開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備總則》規(guī)定通用試驗(yàn)條件

2. IEC 60947-2:2016《低壓開(kāi)關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備第2部分：斷路器》規(guī)范短路試驗(yàn)流程

3. ASTM B117-19鹽霧試驗(yàn)法評(píng)估金屬部件抗腐蝕性能

4. ISO 4892-3:2016氙燈老化試驗(yàn)驗(yàn)證塑料外殼耐候性

5. GB/T 2423.10-2019振動(dòng)試驗(yàn)?zāi)M運(yùn)輸及運(yùn)行工況

檢測(cè)設(shè)備

1. Fluke 1508絕緣電阻測(cè)試儀：量程0.01MΩ-10GΩ，精度±2%

2. Hipotronics AVD系列工頻耐壓測(cè)試臺(tái)：輸出電壓0-15kV AC/DC可調(diào)

3. OMICRON CPC 100+CT分析儀：實(shí)現(xiàn)1000A大電流溫升測(cè)試

4. Chroma 17020可編程交流電源：輸出頻率45Hz-65Hz連續(xù)可調(diào)

5. Zwick/Roell Z100材料試驗(yàn)機(jī)：500N機(jī)械壽命測(cè)試載荷控制

6. FLIR T865紅外熱像儀：溫度分辨率0.03℃，熱場(chǎng)分布分析

7. HIOKI PW3390功率分析儀：0.06%基波精度測(cè)量電能參數(shù)

8. EM TEST UCS 500N雷擊浪涌發(fā)生器：組合波1.2/50μs-8/20μs

9. Bruel&Kjaer 2270聲級(jí)計(jì)：評(píng)估操作噪音≤65dB(A)

10. KEYENCE VHX-7000數(shù)碼顯微鏡：微米級(jí)觸點(diǎn)表面形貌分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)