參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.表面粗糙度：采用白光干涉法測量Ra值范圍0.01-10μm，分辨率達0.1nm

2.透光率與霧度：光譜范圍190-2500nm，精度±0.3%，符合ASTMD1003標(biāo)準(zhǔn)

3.折射率測定：測量精度±0.0002，波長覆蓋365-1550nm

4.膜層厚度：測量范圍5nm-50μm，誤差≤±1%

5.光學(xué)均勻性：波前畸變檢測精度λ/20@632.8nm

檢測范圍

1.光學(xué)玻璃：包括熔融石英、BK7等材質(zhì)透鏡與棱鏡

2.聚合物薄膜：PET/PC/PMMA等材料的透光特性分析

3.金屬鍍膜件：鋁/銀/金反射鏡的膜層均勻性檢測

4.光學(xué)涂層：AR/IR/UV涂層的抗反射性能驗證

5.半導(dǎo)體晶圓：硅/砷化鎵基片的表面缺陷篩查

檢測方法

1.ASTMB588：金屬鍍層厚度X射線熒光法

2.ISO14782：塑料制品透光率積分球法

3.GB/T7962.5：無色光學(xué)玻璃折射率測定方法

4.ISO10110-7：光學(xué)元件表面缺陷等級評定

5.GB/T26323：激光散射法霧度測量規(guī)范

檢測設(shè)備

1.ZygoNewView9000：三維表面形貌儀，垂直分辨率0.1nm

2.PerkinElmerLambda950：雙光束分光光度計，波長精度±0.08nm

3.FilmetricsF20：薄膜分析系統(tǒng)，支持5層膜系建模

4.MitutoyoSURFTESTSJ-410：接觸式粗糙度儀，最大行程350mm

5.BrukerContourGT-X3：白光干涉顯微鏡，50×物鏡NA值0.55

6.OlympusLEXTOLS5000：激光共聚焦顯微鏡，橫向分辨率120nm

7.Agilent5500：原子力顯微鏡，Z軸噪聲水平0.02nm

8.ShimadzuIRSpirit：傅里葉紅外光譜儀，波數(shù)范圍7800-350cm?1

9.KeyenceVHX-7000：數(shù)字顯微鏡系統(tǒng)，景深擴展功能

10.TaylorHobsonCCIHD：非接觸式輪廓儀，測量速度50mm/s

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)