參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.礦物成分分析：XRD定量測定SiO?含量（≥95%為真品特征）

2.密度測試：真品密度范圍2.65-2.66g/cm

3.硬度驗證：莫氏硬度7級標(biāo)準(zhǔn)比對

4.熱穩(wěn)定性測試：800℃恒溫1小時質(zhì)量損失率≤0.3%

5.折射率測定：雙折射率0.0090.001區(qū)間驗證

檢測范圍

1.人造水晶仿制工藝品

2.建筑裝飾用合成石材

3.電子工業(yè)用石英基材

4.珠寶鑲嵌類飾品輔料

5.光學(xué)儀器棱鏡組件

檢測方法

1.ASTMD5738-18《X射線衍射法定量分析晶體材料》

2.ISO1183-1:2019《浮力法測定固體密度》

3.GB/T16552-2017《珠寶玉石鑒定》莫氏硬度測試規(guī)程

4.GB/T7325-2021《石英玻璃化學(xué)分析方法》

5.ISO14720-1:2013《非金屬礦物熱重分析法》

檢測設(shè)備

1.RigakuSmartLabX射線衍射儀：晶體結(jié)構(gòu)分析精度0.001

2.MettlerToledoXPE205密度儀：分辨率0.0001g/cm

3.BuehlerWilsonVH1150硬度計：載荷范圍1-62.5kgf

4.NetzschSTA449F3同步熱分析儀：溫度精度0.5℃

5.ShimadzuUV-2600i分光光度計：波長范圍185-900nm

6.ZeissAxioImagerA2m偏光顯微鏡：放大倍數(shù)50-1000

7.Agilent7900ICP-MS：元素檢出限0.01ppb

8.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測量范圍0.01-3500μm

9.PerkinElmerSpectrumTwoFTIR：波數(shù)精度0.01cm?

10.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀：縱向分辨率0.01μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)