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短焦距透鏡檢測

2025-03-24 關(guān)鍵詞:短焦距透鏡測試周期,短焦距透鏡測試范圍,短焦距透鏡測試方法 相關(guān):
短焦距透鏡檢測

短焦距透鏡檢測摘要:短焦距透鏡檢測需通過系統(tǒng)性光學參數(shù)測量與表面特性分析確保成像精度及可靠性。核心檢測指標包括焦距誤差(±0.5%)、曲率半徑偏差(≤0.1%)、表面粗糙度(Ra<0.02μm)、透射波前畸變(PV值<λ/4)及抗反射膜層性能(反射率<0.5%@400-700nm)。需依據(jù)ISO10110、GB/T7661等標準執(zhí)行規(guī)范化測試流程。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.焦距誤差:采用激光干涉法測量實際焦距與標稱值偏差(允許范圍0.5%)

2.曲率半徑偏差:使用接觸式輪廓儀檢測球面曲率半徑(精度0.05μm)

3.表面粗糙度:白光干涉儀測量鏡面Ra值(要求<0.02μm)

4.透射波前畸變:干涉儀測試PV值(標準<λ/4@632.8nm)

5.抗反射膜性能:分光光度計測定400-700nm波段反射率(目標值<0.5%)

檢測范圍

1.光學玻璃透鏡:BK7、FusedSilica等材質(zhì)短焦透鏡

2.樹脂材料透鏡:PMMA、PC注塑成型非球面透鏡

3.VR/AR設(shè)備用菲涅爾透鏡:環(huán)距精度0.05mm級產(chǎn)品

4.醫(yī)療內(nèi)窺鏡物鏡:直徑<3mm微型短焦透鏡組

5.激光準直系統(tǒng):NA>0.6高數(shù)值孔徑透鏡

檢測方法

1.ISO10110-5:2015光學元件表面缺陷評定標準

2.ISO14997:2011光學表面應力雙折射測試方法

3.GB/T7661-2009透鏡焦距測量方法

4.GB/T2831-2009光學零件表面疵病檢驗方法

5.ASTMF1048-1987非球面光學元件測試規(guī)范

檢測設(shè)備

1.ZygoVerifireMST激光干涉儀:波長632.8nm,波前測量精度λ/100

2.TaylorHobsonPGI1240輪廓儀:軸向分辨率1nm,曲率半徑測量范圍50mm

3.BrukerContourGT-K白光干涉儀:垂直分辨率0.1nm,最大掃描范圍100μm

4.ShimadzuUV-3600分光光度計:波長范圍185-3300nm,光度精度0.002A

5.MitutoyoCMM-CrystaApexS坐標測量機:空間精度(1.9+L/250)μm

6.OptikosLensCheckMTF測試儀:空間頻率0-200lp/mm可調(diào)

7.TriopticsOptiCentric雙光路中心偏測量儀:角度分辨率0.1arcmin

8.OlympusSTM7測量顯微鏡:最大放大倍率5000X,配備DIC微分干涉組件

9.NewportAutoAlign自動準直系統(tǒng):角度定位精度2arcsec

10.SchottOSLOEDU光學設(shè)計仿真軟件:支持非球面高階像差分析

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)

中析短焦距透鏡檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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