參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.波長精度：測量中心波長偏差值（0.1nm）

2.波前畸變：RMS值≤λ/20（λ=632.8nm）

3.能量密度均勻性：局部波動(dòng)≤2%@355nm波段

4.相位穩(wěn)定性：長期漂移量＜λ/50/24h

5.光束發(fā)散角：全角測量精度0.05mrad

檢測范圍

1.光學(xué)薄膜：包括增透膜、高反膜等鍍層材料

2.激光晶體：YAG、KTP等非線性光學(xué)晶體

3.半導(dǎo)體晶圓：GaAs、InP等III-V族化合物基片

4.光纖器件：保偏光纖、光子晶體光纖組件

5.微納光學(xué)元件：衍射光柵、超表面結(jié)構(gòu)器件

檢測方法

ASTME1164-12(2020)光譜波長校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)方法

ISO10110-5:2015光學(xué)元件波前畸變測試規(guī)范

GB/T13752-2021激光光束質(zhì)量測量方法

ISO11145:2018激光器參數(shù)測試與表征

GB/T26184-2010光學(xué)系統(tǒng)雜散光測試方法

檢測設(shè)備

1.ZygoVerifireMST干涉儀：波長范圍400-1100nm，分辨率0.1nm

2.KeysightN7788B光譜分析儀：支持C+L波段高速掃描

3.ThorlabsBP209-IR2光束分析儀：最大功率密度10kW/cm

4.OphirSP928積分球輻射計(jì)：測量直徑200mm光束截面

5.Newport1918-R功率計(jì)：動(dòng)態(tài)范圍10nW-3W

6.HamamatsuC13340條紋相機(jī)：時(shí)間分辨率1ps

7.Agilent8720ES網(wǎng)絡(luò)分析儀：頻率范圍20GHz

8.BrukerContourGT-X3白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm

9.OceanInsightFX2000光纖光譜儀：積分時(shí)間1ms-10s可調(diào)

10.CoherentLaserCheckPro功率探頭：支持紫外到紅外多波段測量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)