參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.電荷密度測(cè)定：測(cè)量范圍0.01-100μC/m，分辨率0.001μC/m

2.介電常數(shù)測(cè)試：頻率范圍1kHz-10MHz，精度0.05ε

3.表面電阻率分析：量程10^3-10^16Ωsq，溫度控制0.5℃

4.粒度分布檢測(cè)：粒徑范圍0.1-5000μm，分級(jí)精度1%

5.礦物成分分析：XRF元素檢測(cè)限0.01%-100%，EDS面掃描分辨率≤3nm

檢測(cè)范圍

1.金屬礦石：鈦鐵礦、金紅石、鋯英砂等重礦物分選

2.非金屬礦石：長(zhǎng)石、石英、云母等硅酸鹽礦物提純

3.工業(yè)廢料：粉煤灰中未燃碳分離、冶金渣金屬回收

4.電子廢棄物：PCB板貴金屬富集體分選

5.稀有金屬礦砂：鉭鈮礦、鋰輝石等戰(zhàn)略性資源精選

檢測(cè)方法

ASTMD257-14：固體絕緣材料直流電阻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

ISO9276-2:2014：粒度分析結(jié)果表述規(guī)范

GB/T13301-2019：金屬礦石導(dǎo)電特性測(cè)試方法

ASTME1915-11：X射線熒光光譜元素分析標(biāo)準(zhǔn)

GB/T3780.4-2017：炭黑材料體積電阻率測(cè)定

檢測(cè)設(shè)備

CoulombMaster-3000：高精度接觸式電荷密度計(jì)，分辨率0.001μC/m

DielectroProX1：寬頻介電譜儀（1kHz-10MHz），溫控精度0.1℃

Resistomat6800：全自動(dòng)表面/體積電阻測(cè)試系統(tǒng)（10^3-10^16Ω）

MalvernMastersizer3000：激光粒度分析儀（0.01-3500μm）

ThermoFisherARLQUANT'X：EDXRF元素分析儀（Na-U元素檢測(cè)）

FEIQuanta650FEG：場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電鏡（1nm分辨率）

HVR-V30型高壓靜電分選機(jī)（0-100kV可調(diào)電場(chǎng)強(qiáng)度）

SartoriusMA37：微量水分測(cè)定儀（精度0.001mg）

Agilent4294A：精密阻抗分析儀（40Hz-110MHz）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)