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紅外線物鏡檢測

2025-03-26 關(guān)鍵詞:紅外線物鏡測試機構(gòu),紅外線物鏡測試周期,紅外線物鏡測試范圍 相關(guān):
紅外線物鏡檢測

紅外線物鏡檢測摘要:紅外線物鏡檢測是評估光學(xué)元件在紅外波段性能的關(guān)鍵技術(shù)手段,涵蓋光譜透過率、像差分析、表面質(zhì)量等核心指標(biāo)。通過標(biāo)準(zhǔn)化方法及精密設(shè)備對材料特性、光學(xué)參數(shù)進(jìn)行量化分析,確保其在熱成像、遙感探測等領(lǐng)域的可靠性。檢測需嚴(yán)格遵循國際及國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,重點關(guān)注波長范圍3-14μm的透射效率與光學(xué)穩(wěn)定性。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.光譜透過率:測量3-5μm及8-14μm波段的透射率偏差≤1.5%,基線波動<0.5%

2.有效焦距誤差:在25℃2℃環(huán)境下測試焦距公差0.05mm

3.波前畸變:采用干涉法檢測PV值≤λ/4(λ=632.8nm)

4.表面粗糙度:Ra≤5nm(依據(jù)ISO10110-8標(biāo)準(zhǔn))

5.環(huán)境適應(yīng)性:高溫85℃/低溫-40℃循環(huán)后透過率變化≤2%

檢測范圍

1.硫系玻璃(Ge22As20Se58等)制成的中波紅外物鏡

2.硅晶體(Si)長波紅外窗口片

3.硫化鋅(ZnS)多光譜整流罩

4.氟化鎂(MgF2)鍍膜消色差透鏡

5.非球面鍺(Ge)紅外熱成像鏡頭組

檢測方法

1.ASTME275-08:紅外光譜儀校準(zhǔn)與測試規(guī)范

2.ISO15368:2001:光學(xué)系統(tǒng)紅外波段透射率測量方法

3.GB/T26331-2010:光學(xué)元件表面反射率測試規(guī)程

4.ISO10110-5:2015:光學(xué)元件表面缺陷等級評定標(biāo)準(zhǔn)

5.GB/T7661-2009:紅外光學(xué)材料折射率測試方法

檢測設(shè)備

1.ThermoScientificNicoletiS50傅里葉變換紅外光譜儀(波長范圍0.8-25μm)

2.ZygoVerifireMST干涉儀(精度λ/1000,支持Φ300mm鏡片檢測)

3.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀(垂直分辨率0.1nm)

4.TriopticsImageMasterUniversal像差分析儀(MTF測量精度1%)

5.AgilentCary7000紫外-可見-近紅外分光光度計(波長擴展至28μm)

6.OptikosLensCheck系列焦平面分析系統(tǒng)(支持f/0.7大口徑鏡頭)

7.FLIRX8580中波紅外熱像儀(640512InSb探測器)

8.MitutoyoSURFTESTSJ-410表面粗糙度儀(行程范圍350mm)

9.NewportOrielCS260B太陽模擬器(光譜匹配度ClassAAA)

10.SCHOTT高溫高濕試驗箱(溫控精度0.5℃,濕度2%RH)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

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