參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.主元素含量測定：鐵（Fe）、銅（Cu）、鉛（Pb）、鋅（Zn）等目標(biāo)金屬元素含量范圍0.1%-70%，精度要求0.05%

2.雜質(zhì)元素分析：砷（As≤0.05%）、硫（S≤1.2%）、二氧化硅（SiO?≤8%）等有害成分限量檢測

3.粒度分布測試：D10-D90粒徑區(qū)間測定，D50中值粒徑誤差0.5μm

4.水分含量檢測：烘干法測定游離水含量范圍0.5%-8%，恒重差≤0.2mg

5.密度測定：真密度測試精度0.01g/cm，堆密度測定重復(fù)性誤差≤1%

6.礦物解離度分析：電子探針測定單體解離度≥85%

檢測范圍

1.鐵精礦：磁鐵礦/赤鐵礦選礦產(chǎn)品TFe≥60%，SiO?≤14%

2.銅精礦：硫化銅礦加工品Cu≥15%，MgO≤5%

3.鉛鋅精礦：混合精礦Pb+Zn≥50%，As≤0.4%

4.金精礦：氰化提金原料Au≥20g/t，C≤1%

5.稀土精礦：輕稀土REO≥50%，ThO?≤0.05%

6.鉬精礦：輝鉬礦精選品Mo≥45%，CaO≤2%

檢測方法

1.X射線熒光光譜法（ASTMD5381/GB/T6730）：主量元素快速定量分析

2.電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ISO17294/GB/T3884.2）：痕量元素ppb級檢測

3.激光粒度分析法（ISO13320/GB/T19077）：干濕法粒度分布測試

4.熱重分析法（GB/T6284）：程序控溫測定結(jié)合水與結(jié)晶水

5.比重瓶法（ASTMD854/GB/T24586）：真密度精確測量

6.X射線衍射定量相分析（JISM8100）：礦物組成半定量測定

檢測設(shè)備

1.X射線熒光光譜儀（PANalyticalAxiosMax）：波長色散型，元素范圍Be-U

2.ICP-MS質(zhì)譜儀（PerkinElmerNexION2000）：檢出限達ppt級，質(zhì)量數(shù)6-290amu

3.激光粒度儀（MalvernMastersizer3000）：測量范圍0.01-3500μm，干濕兩用系統(tǒng)

4.TGA熱重分析儀（METTLERTOLEDOTGA/DSC3+）：溫度范圍25-1600℃，分辨率0.1μg

5.全自動密度計（QuantachromeUltrapyc5000）：氣體膨脹法，精度0.03%

6.X射線衍射儀（BrukerD8ADVANCE）：Cu靶光源，角度范圍5-140(2θ)

7.原子吸收光譜儀（ThermoScientificiCE3500）：火焰/石墨爐雙模式切換

8.掃描電鏡-能譜聯(lián)用系統(tǒng)（ZEISSEVO18-EDS）：分辨率3nm@30kV，元素面分布分析

9.微波消解儀（CEMMARS6）：40位高通量消解罐，溫度控制1℃

10.Ro-Tap篩分機（W.S.TylerRX-29）：200mm標(biāo)準(zhǔn)篩組，振幅3mm可調(diào)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)