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電致發(fā)光檢測

2025-03-28 關(guān)鍵詞:電致發(fā)光測試方法,電致發(fā)光測試標準,電致發(fā)光測試范圍 相關(guān):
電致發(fā)光檢測

電致發(fā)光檢測摘要:電致發(fā)光檢測是通過電場激發(fā)材料產(chǎn)生光輻射的定量分析技術(shù),主要用于評估光電材料的性能與可靠性。核心檢測要點包括發(fā)光效率、光譜特性、穩(wěn)定性及缺陷分析等參數(shù),需結(jié)合國際標準與精密儀器完成數(shù)據(jù)采集與驗證。該技術(shù)廣泛應(yīng)用于半導體器件、顯示面板及新能源材料等領(lǐng)域。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.發(fā)光光譜范圍:測量波長380-780nm可見光波段及近紅外區(qū)域(800-1600nm),精度1nm

2.發(fā)光效率:量化流明效率(lm/W)和外量子效率(EQE),測試范圍0.1-100cd/A

3.色坐標CIE1931:測定x,y坐標值偏差≤0.005

4.電流-電壓特性:掃描范圍10V@1μA-1A分辨率

5.壽命衰減測試:連續(xù)工作1000小時光強衰減率≤5%

6.表面缺陷分析:識別≥5μm的暗斑或亮斑缺陷

檢測范圍

1.有機發(fā)光二極管(OLED):包括AMOLED顯示面板、柔性照明器件

2.量子點材料:QD-LED器件及量子點薄膜組件

3.無機半導體:GaN基LED芯片、Micro-LED陣列

4.鈣鈦礦發(fā)光器件:二維/三維鈣鈦礦光伏組件

5.電致發(fā)光顯示模組:車載顯示屏、工業(yè)儀表盤

檢測方法

ASTME1303-95(2020):電致發(fā)光器件絕對強度測量規(guī)范

ISO14707:2021表面化學分析-輝光放電光譜法

GB/T18911-2015液晶顯示器件光電參數(shù)測量方法

IEC62341-6-2:2020有機發(fā)光二極管環(huán)境試驗規(guī)程

SJ/T11399-2019半導體照明器件測試方法

檢測設(shè)備

1.Keithley2400源表:提供0.1fA-10A電流輸出及1μV電壓分辨率

2.OceanOpticsUSB4000光譜儀:200-1100nm波長范圍,光學分辨率0.35nm

3.AdmesyKronos-PRO光度計:支持CIE1931/1976雙色度系統(tǒng)測量

4.HamamatsuC12132成像亮度計:500萬像素CCD,動態(tài)范圍120dB

5.KeysightB2902A精密電源:最小電壓步進10nV的IVL測試系統(tǒng)

6.ThermoFisherESCALABXi+XPS:表面元素化學態(tài)分析精度0.1eV

7.AgilentCary7000分光光度計:紫外-近紅外全波段透射/反射測量

8.LeicaDM8000M顯微鏡:搭配365nm紫外激發(fā)模塊的缺陷定位系統(tǒng)

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析電致發(fā)光檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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