參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.沉降速率測(cè)定：測(cè)量顆粒在重力或離心力作用下的平均沉降速度（范圍0.1-100mm/min）

2.粒徑分布分析：基于Stokes定律計(jì)算等效粒徑（覆蓋0.1-300μm范圍）

3.密度梯度測(cè)試：確定懸浮液密度梯度曲線（分辨率0.001g/cm）

4.界面穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)：記錄固液界面清晰度變化（時(shí)間分辨率1s）

5.沉降終點(diǎn)判定：測(cè)定完全沉降所需時(shí)間（最長(zhǎng)72h監(jiān)控）

檢測(cè)范圍

1.金屬粉末：包括鈦合金、鋁合金等增材制造原料

2.陶瓷材料：氧化鋁、碳化硅等精密陶瓷前驅(qū)體

3.高分子顆粒：PVC、PE等聚合物微球

4.礦物粉體：碳酸鈣、滑石粉等工業(yè)填料

5.復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)樹脂基預(yù)浸料

檢測(cè)方法

ASTMB822-20：金屬粉末粒度分析的通用標(biāo)準(zhǔn)方法

ISO13317-3:2021：沉降法測(cè)定粒度分布的離心技術(shù)規(guī)范

GB/T19077-2016：粒度分布激光衍射法通則

ASTMD422-63(2020)：土壤顆粒分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

GB/T21865-2020：分散體系穩(wěn)定性光學(xué)分析法

檢測(cè)設(shè)備

1.MalvernMastersizer3000：激光衍射粒度分析儀（測(cè)量范圍0.01-3500μm）

2.LUMiSizer650：離心式分散體系分析儀（最大轉(zhuǎn)速4000rpm）

3.MicromeriticsSedigraphIIIPlus：X射線沉降粒度儀（精度1%）

4.ShimadzuSA-CP4L：離心粒度分析系統(tǒng)（溫度控制0.1℃）

5.BrookhavenBI-DCP：圓盤離心粒度儀（動(dòng)態(tài)范圍10nm-100μm）

6.CPSDC24000：圓盤離心沉降儀（24通道同步檢測(cè)）

7.SympatecHELOS/QUIXEL：動(dòng)態(tài)圖像分析系統(tǒng)（分辨率0.5μm）

8.AntonPaarLitesizer500：納米粒度/Zeta電位分析儀（角度范圍15-175）

9.HoribaParticaLA-960V2：激光散射粒度儀（雙波長(zhǎng)532/940nm）

10.BettersizeBT-9300ST：濕法激光粒度儀（超聲分散功率可調(diào)）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)