干涉沉降檢測(cè)摘要:干涉沉降檢測(cè)是通過(guò)分析顆粒在流體中的沉降行為評(píng)估材料物理特性的關(guān)鍵手段,廣泛應(yīng)用于粉體工程、材料科學(xué)及工業(yè)質(zhì)量控制領(lǐng)域。核心檢測(cè)參數(shù)包括沉降速率、粒徑分布及密度梯度等,需嚴(yán)格遵循ASTM、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn)方法確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.沉降速率測(cè)定:測(cè)量顆粒在重力或離心力作用下的平均沉降速度(范圍0.1-100mm/min)
2.粒徑分布分析:基于Stokes定律計(jì)算等效粒徑(覆蓋0.1-300μm范圍)
3.密度梯度測(cè)試:確定懸浮液密度梯度曲線(分辨率0.001g/cm)
4.界面穩(wěn)定性監(jiān)測(cè):記錄固液界面清晰度變化(時(shí)間分辨率1s)
5.沉降終點(diǎn)判定:測(cè)定完全沉降所需時(shí)間(最長(zhǎng)72h監(jiān)控)
1.金屬粉末:包括鈦合金、鋁合金等增材制造原料
2.陶瓷材料:氧化鋁、碳化硅等精密陶瓷前驅(qū)體
3.高分子顆粒:PVC、PE等聚合物微球
4.礦物粉體:碳酸鈣、滑石粉等工業(yè)填料
5.復(fù)合材料:碳纖維增強(qiáng)樹脂基預(yù)浸料
ASTMB822-20:金屬粉末粒度分析的通用標(biāo)準(zhǔn)方法
ISO13317-3:2021:沉降法測(cè)定粒度分布的離心技術(shù)規(guī)范
GB/T19077-2016:粒度分布激光衍射法通則
ASTMD422-63(2020):土壤顆粒分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
GB/T21865-2020:分散體系穩(wěn)定性光學(xué)分析法
1.MalvernMastersizer3000:激光衍射粒度分析儀(測(cè)量范圍0.01-3500μm)
2.LUMiSizer650:離心式分散體系分析儀(最大轉(zhuǎn)速4000rpm)
3.MicromeriticsSedigraphIIIPlus:X射線沉降粒度儀(精度1%)
4.ShimadzuSA-CP4L:離心粒度分析系統(tǒng)(溫度控制0.1℃)
5.BrookhavenBI-DCP:圓盤離心粒度儀(動(dòng)態(tài)范圍10nm-100μm)
6.CPSDC24000:圓盤離心沉降儀(24通道同步檢測(cè))
7.SympatecHELOS/QUIXEL:動(dòng)態(tài)圖像分析系統(tǒng)(分辨率0.5μm)
8.AntonPaarLitesizer500:納米粒度/Zeta電位分析儀(角度范圍15-175)
9.HoribaParticaLA-960V2:激光散射粒度儀(雙波長(zhǎng)532/940nm)
10.BettersizeBT-9300ST:濕法激光粒度儀(超聲分散功率可調(diào))
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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