礦粉細度檢測摘要:礦粉細度檢測是評價礦物粉末加工質量與適用性的核心環(huán)節(jié),需通過精準的物理參數(shù)測定確保材料性能符合工業(yè)標準。關鍵檢測指標包括粒度分布、比表面積及篩余量等,需嚴格遵循ASTM、ISO及GB/T等規(guī)范。本文系統(tǒng)闡述檢測項目、適用范圍、方法標準及設備選型要點。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。
1.粒度分布:測定顆粒尺寸范圍(0.1-1000μm),表征D10/D50/D90累積分布曲線
2.比表面積:采用BET法測量(0.01-2000m/g),評估吸附與反應活性
3.篩余量:325目標準篩(45μm孔徑)殘留物占比(≤3%)
4.D50中位粒徑:表征顆粒群平均尺寸(0.5μm精度)
5.孔隙率:壓汞法測量開孔體積占比(0.1-1000nm孔徑范圍)
1.金屬礦粉:鐵礦粉、銅礦粉、鋁礦粉等冶煉原料
2.非金屬礦粉:重鈣粉、滑石粉、高嶺土等填料材料
3.工業(yè)廢渣粉:鋼渣微粉、粉煤灰等固廢再生材料
4.功能粉末:硅微粉、鈦白粉等精細化工原料
5.新能源材料:鋰電負極石墨粉、正極磷酸鐵鋰粉末
1.ASTMB822-20:金屬粉末粒度分布的激光衍射法測定
2.ISO13320:2020:粒度分析激光衍射技術通用準則
3.GB/T19077-2016:粒度分布激光衍射法國家標準
4.GB/T8074-2008:水泥比表面積測定方法(勃氏法)
5.ISO9277:2010:氣體吸附法BET比表面測定規(guī)范
1.MalvernMastersizer3000:激光衍射粒度儀(0.01-3500μm測量范圍)
2.MicromeriticsTriStarIIPlus:全自動比表面及孔隙分析儀(0.35-500nm孔徑)
3.Ro-TapRX-29:電磁振篩機(20-635目篩網(wǎng)兼容)
4.JEOLJSM-IT800:場發(fā)射掃描電鏡(1nm分辨率形貌分析)
5.SympatecHELOS/BR:干法分散激光粒度儀(0.1-8750μm動態(tài)范圍)
6.QuantachromeAutosorb-iQ:多站全功能吸附分析系統(tǒng)(77K氮吸附模式)
7.BettersizeBT-9300ST:濕法激光粒度儀(0.02-2000μm測量精度)
8.FangyuanFY-100B:勃氏透氣比表面積測定儀(1%重復性誤差)
9.ShimadzuSALD-7500nano:納米粒度分析儀(7nm-800μm量程)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務。
中析礦粉細度檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師