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不可見光譜檢測

2025-03-29 關(guān)鍵詞:不可見光譜測試案例,不可見光譜測試機(jī)構(gòu),不可見光譜測試周期 相關(guān):
不可見光譜檢測

不可見光譜檢測摘要:不可見光譜檢測通過分析紫外、紅外及太赫茲等非可見波段的物質(zhì)響應(yīng)特性,為材料成分分析、缺陷識(shí)別及功能性評價(jià)提供科學(xué)依據(jù)。核心檢測參數(shù)包括透射率、反射率、吸收系數(shù)及輻射特性等,適用于光學(xué)器件、半導(dǎo)體材料、生物醫(yī)學(xué)制品等領(lǐng)域質(zhì)量控制與研發(fā)驗(yàn)證。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1. 紫外-可見光透過率檢測:波長范圍200-800nm,精度±0.3%

2. 近紅外吸收光譜分析:波段900-2500nm,分辨率4cm?1

3. 中遠(yuǎn)紅外輻射特性測試:3-15μm波段發(fā)射率測量,不確定度≤0.02

4. 太赫茲時(shí)域光譜掃描:0.1-10THz頻段復(fù)折射率測定

5. 熒光量子產(chǎn)率計(jì)算:激發(fā)波長覆蓋250-700nm,積分球系統(tǒng)誤差校正

檢測范圍

1. 光學(xué)薄膜材料:包括增透膜、濾光片等鍍膜器件的帶外抑制比測試

2. 半導(dǎo)體晶圓:硅基/化合物半導(dǎo)體載流子濃度紅外表征

3. 高分子聚合物:C-H鍵振動(dòng)吸收峰位定量分析

4. 生物組織樣本:近紅外二區(qū)(NIR-II)熒光探針性能驗(yàn)證

5. 航天熱控涂層:5-25μm波段半球發(fā)射率精確測定

檢測方法

1. ASTM E275紫外可見分光光度法標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程

2. ISO 13468塑料材料總透光率測定通則

3. GB/T 26824-2021納米材料紅外光譜測試規(guī)范

4. ISO 18554激光誘導(dǎo)擊穿光譜表面污染檢測法

5. GB/T 36334太赫茲時(shí)域光譜材料參數(shù)測量方法

檢測設(shè)備

1. PerkinElmer Lambda 1050+雙光束紫外可見分光光度計(jì):波長精度±0.08nm

2. Bruker Vertex 80v真空型傅里葉紅外光譜儀:4cm?1分辨率模式

3. Thermo Scientific Nicolet iN10 MX顯微紅外成像系統(tǒng):15μm空間分辨率

4. Advantest TAS7500TS太赫茲時(shí)域光譜儀:最大輸出功率20mW

5. Labsphere LMS-7600積分球輻射測量系統(tǒng):直徑150mm鍍金球體

6. Horiba Fluorolog-QM量子效率測試平臺(tái):光電倍增管響應(yīng)校正功能

7. Agilent Cary 7000全能型分光光度計(jì):支持UMA絕對反射附件

8. FLIR SC8000高速紅外熱像儀:640×512像素中波制冷探測器

9. Ocean Insight FX系列近紅外光纖光譜儀:內(nèi)置InGaAs陣列傳感器

10. Specim FX50高光譜成像儀:400-1000nm波段推掃式成像

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析不可見光譜檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師

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