參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 傳輸損耗測試：頻率范圍1-110 GHz，損耗值≤0.05 dB/m

2. 截止頻率驗證：偏差容限±0.3 GHz

3. 尺寸精度測量：內(nèi)壁公差±5 μm（矩形波導）

4. 材料介電常數(shù)測定：ε_r=2.05±0.02（@25℃）

5. 表面粗糙度檢測：Ra≤0.8 μm（機械加工面）

6. 氣密性測試：氦檢漏率≤1×10^-9 Pa·m3/s

7. 溫度循環(huán)試驗：-55℃至+125℃，100次循環(huán)

檢測范圍

1. 金屬合金波導管：銅鍍銀WR90/WR28系列

2. 陶瓷基復合波導：氮化鋁/氧化鋯基毫米波器件

3. 聚合物基柔性波導：PTFE/PEEK材質(zhì)可彎曲結(jié)構(gòu)

4. 石英玻璃真空波導：THz頻段特種傳輸系統(tǒng)

5. 半導體集成波導：GaAs/Si基微帶線陣列

6. 高溫超導波導：YBCO涂層諧振腔組件

檢測方法

1. ASTM D5568-22《微波介質(zhì)材料復介電常數(shù)測試規(guī)范》

2. ISO 1101:2017《幾何公差(GPS)形狀與位置公差》

3. GB/T 11344-2021《電磁波導組件通用技術(shù)條件》

4. IEC 61169-24:2020《射頻連接器第24部分：精密同軸波導適配器》

5. MIL-STD-202H《電子電氣元件環(huán)境試驗方法》

6. GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：溫度變化》

檢測設(shè)備

1. Keysight PNA-X N5247B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：支持110 GHz頻段S參數(shù)測量

2. Hexagon Global S 07.10.08三坐標測量機：空間精度0.6+L/400 μm

3. Bruker ContourGT-X8白光干涉儀：表面粗糙度分辨率0.1 nm

4. Thermo Scientific Nicolet iS50 FTIR光譜儀：介電特性測試范圍0.5-20 THz

5. Agilent 4294A精密阻抗分析儀：頻率范圍40 Hz-110 MHz

6. Pfeiffer ASM 340氦質(zhì)譜檢漏儀：靈敏度達5×10^-12 mbar·L/s

7. ESPEC T-242熱沖擊試驗箱：溫變速率≥15℃/min

8. Olympus Omniscan X3相控陣探傷儀：缺陷檢出尺寸≥50 μm

9. Anritsu ML2437A功率計：動態(tài)范圍-70至+20 dBm

10. Zygo Verifire MST激光干涉儀：面形精度λ/100 PV值

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)