參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.線性尺寸測量：涵蓋長度（0.001mm）、寬度（0.002mm）、高度（0.005mm）等基礎(chǔ)尺寸公差

2.形狀公差分析：平面度（≤0.01mm/m）、圓度（≤0.005mm）、圓柱度（≤0.008mm）等形位偏差

3.角度測量：平面夾角（30''）、錐度（1:5~1:50）、傾斜度（≤0.02）等角度參數(shù)

4.輪廓度檢測：曲面輪廓偏差（0.015mm）、齒輪漸開線輪廓（DIN3962標(biāo)準(zhǔn)）

5.位置公差評(píng)定：同軸度（≤φ0.01mm）、對(duì)稱度（≤0.02mm）、位置度（0.025mm）

檢測范圍

1.金屬加工件：發(fā)動(dòng)機(jī)缸體/曲軸/齒輪箱等機(jī)械部件

2.注塑成型件：電子接插件/醫(yī)療器械外殼等塑料制品

3.陶瓷基板：半導(dǎo)體封裝基板/熱沉組件等精密陶瓷

4.復(fù)合材料構(gòu)件：碳纖維航空部件/風(fēng)電葉片主梁

5.光學(xué)元件：透鏡曲率半徑/棱鏡角度/反射鏡平面度

檢測方法

1.接觸式測量法：依據(jù)ISO10360-2進(jìn)行三坐標(biāo)測量機(jī)精度驗(yàn)證

2.光學(xué)投影法：執(zhí)行GB/T1958-2017產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)

3.激光掃描法：符合ASTME2544表面輪廓非接觸測量標(biāo)準(zhǔn)

4.白光干涉法：采用ISO25178-604表面紋理分析規(guī)范

5.氣動(dòng)量儀法：參照GB/T10920-2008內(nèi)徑比對(duì)測量規(guī)程

檢測設(shè)備

1.HexagonGlobalClassic07.10.07三坐標(biāo)測量機(jī)：空間尺寸測量精度(1.9+L/250)μm

2.MitutoyoLH-600數(shù)控高度儀：分辨率0.1μm，Z軸行程600mm

3.TaylorHobsonTalyrond585圓度儀：徑向測量精度0.025μm

4.ZeissO-INSPECT322復(fù)合式測量系統(tǒng)：集成接觸探針與光學(xué)傳感器

5.KeyenceLJ-X8000系列激光位移計(jì)：X軸掃描速度64kHz

6.MahrFederalMarSurfLD260輪廓儀：粗糙度Ra測量范圍0.01-50μm

7.RenishawXL-80激光干涉儀：線性定位精度0.5ppm

8.NikonNEXIVVM-454視頻測量儀：光學(xué)放大倍率35X-220X

9]AliconaInfiniteFocusG5顯微三維測量系統(tǒng)：垂直分辨率10nm

10]WenzelVolumaticII橋式測量機(jī)：溫度補(bǔ)償系統(tǒng)(18-22℃0.5℃)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)