參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.中心厚度測量：量程0.1-50mm，精度0.5μm

2.曲率半徑驗(yàn)證：測量范圍R5-R2000mm，重復(fù)性0.01%

3.表面粗糙度分析：Ra≤0.8nm@1010μm掃描區(qū)域

4.折射率測定：覆蓋1.45-1.90區(qū)間，分辨率0.0002

5.透光率測試：380-2500nm寬光譜帶內(nèi)透過率≥98%

6.面形誤差評(píng)估：PV值≤λ/10@632.8nm基準(zhǔn)波長

7.鍍膜層厚度檢驗(yàn)：5-500nm膜厚測量誤差1nm

檢測范圍

1.光學(xué)玻璃復(fù)透鏡：包括K9、H-ZF52A等高折射率材質(zhì)

2.樹脂復(fù)合鏡片：聚碳酸酯(PC)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)基材

3.多層鍍膜透鏡：含寬帶增透膜、分光膜等特殊涂層制品

4.微透鏡陣列組件：單元直徑0.1-5mm的集成光學(xué)系統(tǒng)

5.紅外光學(xué)透鏡：硫系玻璃(Ge28Sb12Se60)、ZnSe等中遠(yuǎn)紅外材料

6.非球面復(fù)合鏡片：二次曲面/自由曲面復(fù)雜構(gòu)型制品

檢測方法

ASTMB924-20：采用激光干涉法測定球面曲率半徑

ISO10110-5:2015：應(yīng)用相移干涉術(shù)進(jìn)行面形偏差量化分析

GB/T26397-2011：規(guī)定接觸式測厚儀的中心厚度測量規(guī)程

ISO9211-4:2012：規(guī)范光學(xué)鍍膜的反射/透射特性測試方法

GB/T7962.1-2010：基于最小偏向角法的折射率測定標(biāo)準(zhǔn)

DIN3140-7:2019：確立顯微成像法的表面瑕疵評(píng)級(jí)體系

檢測設(shè)備

TaylorHobsonPGIOptics輪廓儀：實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)面形精度測量

ZygoVerifireMST激光干涉儀：支持Φ300mm大口徑鏡片曲率檢測

MitutoyoLSM-9000激光掃描顯微鏡：配備0.01nm分辨率粗糙度模塊

PerkinElmerLambda1050雙光束分光光度計(jì)：覆蓋175-3300nm光譜測試

ShimadzuUV-3600Plus光譜分析系統(tǒng)：配備積分球附件進(jìn)行全向透射分析

BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：提供0.1垂直分辨率的3D表面重建

OlympusMX63金相顯微鏡：搭載2000萬像素CCD的微觀缺陷觀測系統(tǒng)

NikonMM-400測量顯微鏡：配置DIC微分干涉對比的幾何尺寸計(jì)量平臺(tái)

Agilent5500原子力顯微鏡：實(shí)現(xiàn)納米級(jí)表面拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)表征

ThermoScientificARLEQUINOX3000XRD：用于晶體結(jié)構(gòu)分析的X射線衍射系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)