參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.熔點(diǎn)溫度范圍：測(cè)定初始熔化溫度（Tm-onset）至完全液化溫度（Tm-end），精度0.5℃，測(cè)試區(qū)間80-450℃

2.抗壓強(qiáng)度測(cè)試：常溫下軸向載荷0-50kN可調(diào)，加載速率5mm/min10%，測(cè)定屈服強(qiáng)度≥15MPa

3.熱膨脹系數(shù)：20-300℃溫區(qū)內(nèi)測(cè)定線(xiàn)性膨脹量ΔL/L0≤0.8%，升溫速率5℃/min

4.表面粗糙度：三維輪廓儀測(cè)量Ra≤3.2μm，取樣長(zhǎng)度0.8mm

5.化學(xué)兼容性：在600℃靜態(tài)熔融金屬中浸泡30min后測(cè)定質(zhì)量損失率≤0.3%

檢測(cè)范圍

1.低熔點(diǎn)合金芯體：Sn-Bi基合金（熔點(diǎn)138-170℃）、Zn-Al基復(fù)合材料

2.水溶性陶瓷芯：硅酸鹽基復(fù)合體系（Na2OnSiO2）

3.聚合物基芯材：PEG系列（分子量6000-20000）、PLA/PCL共混體系

4.鹽芯材料：NaCl-KCl共晶體系（熔點(diǎn)657℃5℃）

5.復(fù)合相變材料：Al-Si合金包裹型中空結(jié)構(gòu)芯體

檢測(cè)方法

1.差示掃描量熱法（DSC）：依據(jù)ASTME794-06測(cè)定相變焓值及特征溫度點(diǎn)

2.高溫蠕變?cè)囼?yàn)：按ISO204:2018執(zhí)行階梯式加載試驗(yàn)（100-300℃）

3.X射線(xiàn)斷層掃描（μ-CT）：參照GB/T35389-2017進(jìn)行三維缺陷重建分析

4.電感耦合等離子體光譜（ICP-OES）：依據(jù)GB/T20975.25-2020測(cè)定金屬雜質(zhì)含量

5.動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析（DMA）：按ASTMD7028-07測(cè)定儲(chǔ)能模量E'變化曲線(xiàn)

檢測(cè)設(shè)備

1.梅特勒TGA/DSC3+同步熱分析儀：溫度范圍-150~700℃，分辨率0.1μg

2.ZwickRoellZ250電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)：最大載荷250kN，配備1200℃高溫爐

3.BrukerSkyScan1272微焦點(diǎn)CT系統(tǒng)：分辨率＜3μm，電壓20-100kV可調(diào)

4.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：波長(zhǎng)范圍165-782nm，檢出限＜ppb級(jí)

5.NetzschDIL402C膨脹儀：最大膨脹量2500μm，控溫精度0.1℃

6.KeyenceVHX-7000三維顯微鏡：5000萬(wàn)像素CMOS，景深合成功能

7.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm

8.Agilent7890B氣相色譜儀：配備FID/TCD雙檢測(cè)器系統(tǒng)

9.ZeissCONTURAG2三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：空間精度(1.9+L/250)μm

10.ShimadzuMCT-5100熱機(jī)械分析儀：載荷范圍0.001-5N，形變分辨率1nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)