參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1. 磁頭間隙尺寸測量：精度范圍0.1-0.5μm，允許公差±0.02μm

2. 線圈電阻與電感值測試：直流電阻5-50Ω（±1%），電感量0.5-5mH（±3%）

3. 信號幅度與信噪比分析：輸出幅度50-200mVpp（±5%），SNR≥45dB@20MHz

4. 耐磨壽命試驗(yàn)：接觸式磁頭循環(huán)次數(shù)≥1×10?次（載荷50g）

5. 溫升特性測試：連續(xù)工作8小時(shí)ΔT≤15℃（環(huán)境溫度25℃）

6. 頻率響應(yīng)特性：帶寬覆蓋10kHz-100MHz（波動(dòng)≤±1.5dB）

檢測范圍

1. 硬盤驅(qū)動(dòng)器磁阻式讀寫頭

2. 光盤驅(qū)動(dòng)器激光讀寫組件

3. 磁帶存儲系統(tǒng)薄膜磁頭

4. 工業(yè)編碼器感應(yīng)式讀頭

5. 醫(yī)療影像設(shè)備電磁感應(yīng)探頭

6. 金融終端磁條讀取模塊

檢測方法

1. ASTM B798-19標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行耐磨性能測試

2. ISO 14962:2022電磁兼容性評估規(guī)范

3. GB/T 2423.22-2012溫度沖擊試驗(yàn)方法

4. IEC 60404-8-1磁性材料特性測量標(biāo)準(zhǔn)

5. GB/T 18268.21-2010電學(xué)參數(shù)測量通則

6. ISO/IEC 17025:2017實(shí)驗(yàn)室管理體系要求

檢測設(shè)備

1. Mitutoyo ML-10激光干涉儀：位移分辨率0.001μm

2. Agilent 4284A精密LCR表：頻率范圍20Hz-1MHz

3. Keysight DSOX1204A示波器：帶寬200MHz/采樣率2GSa/s

4. Bruker ContourGT三維光學(xué)輪廓儀：縱向分辨率0.1nm

5. ESPEC T-240高低溫試驗(yàn)箱：溫控范圍-70℃~150℃

6. Taber 5750線性摩擦試驗(yàn)機(jī)：載荷范圍10-1000g

7. KLA-Tencor P17表面形貌儀：掃描面積100×100mm2

8. OLYMPUS LEXT OLS5000激光顯微鏡：放大倍數(shù)10800×

9. Thermo Fisher Magna860振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)：磁場強(qiáng)度±2T

10. HIOKI IM3590阻抗分析儀：基本精度±0.05%

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)