參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 純度測(cè)定：主成分BiF3含量≥99.5%，采用差示掃描量熱法（DSC）測(cè)定熔融焓值

2. 雜質(zhì)元素分析：As≤5ppm、Pb≤10ppm、Fe≤20ppm（ICP-OES法）

3. 晶體結(jié)構(gòu)表征：XRD譜圖與PDF#00-024-0025標(biāo)準(zhǔn)卡片匹配度≥95%

4. 水分含量：卡爾費(fèi)休法測(cè)定游離水≤0.2%（w/w）

5. 粒度分布：D50值控制在5-20μm范圍（激光衍射法）

檢測(cè)范圍

1. 光學(xué)鍍膜用高純氟化鉍靶材（純度≥99.99%）

2. 鋰離子電池電解質(zhì)添加劑（BiF3摻雜量0.1-1.5wt%）

3. 核工業(yè)屏蔽材料復(fù)合組分（BiF3含量30-60%）

4. 醫(yī)藥中間體合成催化劑（顆粒度200-400目）

5. 特種玻璃制造原料（Cl?雜質(zhì)≤50ppm）

檢測(cè)方法

1. ASTM E3061-17《電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測(cè)定高純氟化物中痕量元素》

2. ISO 21587-3:2007《硅酸鹽材料化學(xué)分析-X射線熒光光譜法》

3. GB/T 23274.1-2009《二氧化鈦類物質(zhì)中雜質(zhì)元素的測(cè)定》

4. JIS K0115:2004《X射線衍射分析方法通則》

5. GB/T 6283-2008《化工產(chǎn)品中水分含量的測(cè)定 卡爾·費(fèi)休法》

檢測(cè)設(shè)備

1. Rigaku SmartLab X射線衍射儀：配備HyPix-3000探測(cè)器，角度精度±0.001°

2. PerkinElmer Avio 500 ICP-OES：軸向觀測(cè)模式，檢出限達(dá)ppb級(jí)

3. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm

4. Mettler Toledo TGA/DSC 3+熱分析儀：升溫速率0.01-100℃/min

5. Metrohm 917 Coulometric Karl Fischer滴定儀：分辨率0.1μg H2O

6. Bruker S8 TIGER波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀：Rh靶4kW X光管

7. Agilent 7900 ICP-MS：質(zhì)量數(shù)范圍2-260amu，檢出限≤0.1ppt

8. Shimadzu EDX-7000能量色散X射線熒光儀：Be窗探測(cè)器分辨率≤130eV

9. Netzsch STA 449 F5同步熱分析儀：TG靈敏度0.1μg

10. Horiba LA-960激光散射粒度儀：雙波長(zhǎng)光學(xué)系統(tǒng)（405nm/635nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)