參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 靈敏度檢測(cè)：測(cè)量靶面照度0.1-1000 lx范圍內(nèi)輸出電流變化率（±3%精度）

2. 暗電流測(cè)試：在10^-5 Pa真空環(huán)境下測(cè)定無(wú)光照時(shí)殘余電流值（≤1 nA）

3. 光譜響應(yīng)范圍：掃描400-1100 nm波段量子效率曲線（步長(zhǎng)5 nm）

4. 分辨率驗(yàn)證：采用ISO 12233測(cè)試卡評(píng)估極限空間分辨率（單位：lp/mm）

5. 滯后特性分析：輸入光強(qiáng)階躍變化時(shí)響應(yīng)時(shí)間測(cè)定（上升/下降時(shí)間≤20 ms）

檢測(cè)范圍

1. 硫化鉛（PbS）紅外攝像管：工作波段1-3 μm

2. 硒化鎘（CdSe）可見(jiàn)光攝像管：光譜響應(yīng)400-700 nm

3. 氧化鉛（PbO）彩色攝像管：三基色分離度≥95%

4. 非晶硅（a-Si）X射線攝像管：探測(cè)效率≥65%@60 keV

5. 碲化汞鎘（HgCdTe）低溫?cái)z像管：工作溫度77K條件下暗電流抑制

檢測(cè)方法

1. ISO 9039:2016《光學(xué)系統(tǒng)分辨力測(cè)試方法》用于MTF曲線測(cè)量

2. GB/T 13584-2011《紅外探測(cè)器參數(shù)測(cè)試方法》規(guī)范D*值計(jì)算

3. ASTM E2599-22《光電探測(cè)器線性度校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)》控制非線性誤差≤1%

4. IEC 60747-5-3:2020《光電子器件光電參數(shù)測(cè)試流程》

5. GB/T 18901.2-2013《圖像傳感器光電性能試驗(yàn)方法》規(guī)定動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試條件

檢測(cè)設(shè)備

1. OL Series 770光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)：波長(zhǎng)精度±0.2 nm，配備積分球光源

2. Keithley 6517B靜電計(jì)：最小電流測(cè)量10 fA，支持多通道同步采集

3. Image Engineering IE-SFR Pro分辨率分析儀：符合ISO 12233:2017標(biāo)準(zhǔn)

4. Thermo Scientific ESCALAB Xi+表面分析儀：用于靶面材料能譜分析

5. Agilent B1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀：IV/CV特性曲線測(cè)量精度0.1%

6. VACCO VMS-1900真空測(cè)試艙：極限真空度5×10^-7 Torr

7. Fluke Ti450紅外熱像儀：溫度分辨率0.03℃@30℃工作溫升監(jiān)測(cè)

8. Labsphere LMS-7600均勻光源系統(tǒng)：輸出不均勻性＜±1%

9. Tektronix DPO7254示波器：帶寬2.5 GHz支持瞬態(tài)響應(yīng)分析

10. ESPEC SH-642恒溫恒濕箱：溫度范圍-70℃~+180℃（±0.5℃）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)