不加熱型陣列波導(dǎo)光柵檢測(cè)摘要:不加熱型陣列波導(dǎo)光柵(AWG)的檢測(cè)需基于精密光學(xué)參數(shù)與材料特性分析,核心指標(biāo)包括波長(zhǎng)精度、插入損耗及偏振敏感性等。本文系統(tǒng)梳理了AWG器件的關(guān)鍵檢測(cè)項(xiàng)目、適用材料范圍、標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試方法及專用設(shè)備選型規(guī)范,為光通信組件質(zhì)量控制提供技術(shù)依據(jù)。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1. 插入損耗:?jiǎn)瓮ǖ赖湫椭怠?.8dB@1550nm波段
2. 波長(zhǎng)精度:中心波長(zhǎng)偏差≤±0.05nm(C波段)
3. 偏振相關(guān)損耗(PDL):全通道PDL≤0.15dB
4. 溫度穩(wěn)定性:波長(zhǎng)漂移≤±0.02nm/℃(-5℃~70℃)
5. 回波損耗:各端口RL≥45dB
1. 硅基二氧化硅波導(dǎo)材料(折射率差Δ=0.75%)
2. 聚合物光波導(dǎo)材料(PMMA/SU-8系列)
3. 石英基AWG芯片(通道數(shù)8-64)
4. 光纖陣列耦合模塊(FAU間距127μm/250μm)
5. 集成式光學(xué)收發(fā)組件(含AWG復(fù)用/解復(fù)用功能)
1. ASTM E275-08(2021)光譜分析法測(cè)定波長(zhǎng)精度
2. ISO/IEC 14763-3:2014光器件插入損耗測(cè)試規(guī)程
3. GB/T 18311.31-2022光纖器件環(huán)境試驗(yàn)方法
4. IEC 61300-3-23:2018偏振相關(guān)損耗測(cè)量規(guī)范
5. GB/T 15972.40-2021光纖傳輸特性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
1. Yokogawa AQ6370D光譜分析儀(波長(zhǎng)范圍600-1700nm)
2. EXFO FTB-5240S-P光功率計(jì)(動(dòng)態(tài)范圍+3~-70dBm)
3. Keysight N7788B偏振控制器(PDL測(cè)量分辨率0.01dB)
4. ILX Lightwave FPM-8220溫控平臺(tái)(控溫精度±0.1℃)
5. Agilent 81600B可調(diào)諧激光源(線寬≤100kHz)
6. Thorlabs PAX1000偏振分析儀(支持Jones矩陣分析)
7. Anritsu MN9620A多通道同步測(cè)試系統(tǒng)
8. OZ Optics MTS-6000光纖對(duì)準(zhǔn)平臺(tái)(定位精度±0.1μm)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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