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電暈損失檢測

2025-04-03 關鍵詞:電暈損失測試案例,電暈損失測試方法,電暈損失測試標準 相關:
電暈損失檢測

電暈損失檢測摘要:電暈損失檢測是評估絕緣材料在高電壓環(huán)境下因電暈放電導致能量損耗的關鍵技術手段。其核心在于量化材料表面或內(nèi)部局部放電引起的性能劣化,主要涉及電壓耐受性、介質(zhì)損耗及局部放電強度等參數(shù)。檢測需遵循國際與國家標準,涵蓋電纜、薄膜、復合材料等多類材料,確保數(shù)據(jù)精確性和工程適用性。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 表面電導率測試:測量材料表面電阻率(范圍1×103~1×101? Ω·m),溫度條件25±2℃。

2. 介質(zhì)損耗角正切值(tanδ):頻率范圍50Hz~1MHz,電壓梯度0.1~5kV/mm。

3. 局部放電量測定:靈敏度≤1pC,脈沖重復率0.1~1000Hz。

4. 電暈起始電壓(CIV):升壓速率0.5kV/s±10%,環(huán)境濕度≤40%RH。

5. 電荷衰減特性:初始電荷密度1×10??~1×10?3 C/m2,衰減時間常數(shù)0.1~1000s。

檢測范圍

1. 交聯(lián)聚乙烯(XLPE)高壓電纜絕緣層

2. 聚酰亞胺薄膜(PI)柔性電路基材

3. 環(huán)氧樹脂澆注式變壓器繞組

4. 硅橡膠復合絕緣子傘裙

5. 芳綸紙蜂窩結構航空復合材料

檢測方法

ASTM D1868-2021:采用針-板電極法測定固體絕緣材料電暈起始電壓

IEC 60270:2015:局部放電測量系統(tǒng)的校準與試驗程序

GB/T 1408.1-2016:絕緣材料工頻電氣強度試驗方法

ISO 15509:2020:絕緣材料表面電導率接觸式四探針法

GB/T 1693-2007:硫化橡膠工頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測定

檢測設備

1. HVP-500A型高壓電源:輸出0~50kV可調(diào)直流/交流電源,紋波系數(shù)≤0.5%

2. PDCheck 2000局部放電檢測儀:帶寬20kHz-30MHz,最小分辨率0.5pC

3. Agilent 4294A精密阻抗分析儀:頻率范圍40Hz~110MHz,基本精度±0.08%

4. TREK Model 152-1靜電計:測量范圍±20kV,輸入阻抗>1×101?Ω

5. HIOKI IM3570絕緣電阻測試儀:測試電壓10V~1000V DC,最大電阻量程101?Ω

6. FLIR T1020紅外熱像儀:熱靈敏度<20mK@30℃,空間分辨率1.1mrad

7. Keysight B2987A微弱電流表:最小電流分辨率0.1fA,電壓范圍±210V

8. EMIC-303S耐壓試驗機:最大輸出電壓AC100kV/DC120kV,泄漏電流精度±1%

9. ZEISS Axio Scope.A1金相顯微鏡:5000倍光學放大,配備微分干涉對比模塊

10. MTS C43.304電子萬能試驗機:載荷范圍0.01N~30kN,位移分辨率0.002μm

北京中科光析科學技術研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)

中析電暈損失檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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