參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 原子磁矩測(cè)定：測(cè)量單位原子的有效玻爾磁子數(shù)（μ_B/atom），精度±0.02μ_B

2. 飽和磁化強(qiáng)度：測(cè)試范圍0.1-2.5 T條件下材料最大磁化強(qiáng)度（單位：emu/g）

3. 居里溫度測(cè)定：通過溫度掃描確定磁性相變點(diǎn)（Tc），控溫精度±0.1K

4. 磁各向異性常數(shù)：測(cè)量立方/六方晶系材料的K1值（erg/cm3）

5. 超精細(xì)磁場(chǎng)分析：采用穆斯堡爾譜測(cè)定Fe基材料的超精細(xì)場(chǎng)（單位：T）

檢測(cè)范圍

1. 鐵磁性合金：包括Fe-Co-Ni基軟磁合金、Nd-Fe-B永磁體等

2. 稀土永磁材料：釤鈷合金（SmCo?）、鏑摻雜釹鐵硼（Nd?Fe??B/Dy）

3. 反鐵磁材料：MnF?、FeO等過渡金屬化合物

4. 納米磁性材料：Fe?O?納米顆粒、CoPt納米線陣列

5. 拓?fù)浯判圆牧希篗nBi?Te?、FeGe手性磁體

檢測(cè)方法

1. ASTM A894：振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)法（VSM）測(cè)定飽和磁化強(qiáng)度

2. ISO 21778：超導(dǎo)量子干涉儀（SQUID）測(cè)量弱磁性材料μ_B

3. GB/T 13888-2020：脈沖強(qiáng)場(chǎng)法測(cè)定高矯頑力材料各向異性場(chǎng)

4. ASTM E3061：X射線磁圓二色性（XMCD）測(cè)定元素分辨μ_B

5. GB/T 3656-2008：交流初始磁化率測(cè)試方法

檢測(cè)設(shè)備

1. Quantum Design PPMS DynaCool：綜合物性測(cè)量系統(tǒng)（磁場(chǎng)范圍±9 T，溫度范圍1.9-400 K）

2. Lake Shore 8600系列振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)：靈敏度10^-6 emu，最大磁場(chǎng)3 T

3. Oxford Instruments Teslatron PT：低溫超導(dǎo)磁體系統(tǒng)（磁場(chǎng)±12 T，溫度1.5-300 K）

4. Bruker EMXplus EPR譜儀：電子順磁共振測(cè)定未成對(duì)電子μ_B

5. Netzsch STA 449 F3 Jupiter：同步熱分析儀（DSC-TG聯(lián)用測(cè)定居里溫度）

6. Rigaku SmartLab X射線衍射儀：配備低溫磁場(chǎng)附件進(jìn)行原位結(jié)構(gòu)-磁性分析

7. MicroSense EZ9 VSM：臺(tái)式振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)（磁場(chǎng)±2 T，分辨率5×10^-6 emu）

8. Agilent 5500 SPM：原子力顯微鏡配備MFM模塊進(jìn)行納米尺度磁性成像

9. Hysteresisgraph Permagraph C-300：工業(yè)級(jí)永磁材料全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

10. PANalytical X'Pert3 MRD XL：高分辨X射線衍射儀結(jié)合磁性薄膜測(cè)試附件

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)