參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1. 光柵周期精度：測量實際刻線間距與設計值的偏差范圍（±0.1 nm）

2. 衍射效率分布：在指定波長（200-2000 nm）范圍內測試各級次衍射光強度比

3. 線密度均勻性：全口徑范圍內每毫米刻線數(shù)波動量（≤±0.05%）

4. 表面粗糙度：工作區(qū)Ra值（≤1 nm）與非工作區(qū)Ra值（≤5 nm）

5. 基底材料折射率：在溫度（20±1℃）下測定折射率均勻性（Δn≤5×10??）

檢測范圍

1. 全息光柵：用于高分辨率光譜儀的核心分光元件

2. 刻劃光柵：金屬基底閃耀光柵，適用于高功率激光系統(tǒng)

3. 透射式衍射光柵：聚合物基材相位光柵

4. 反射式凹面光柵：天文光譜儀用曲面衍射元件

5. 光纖布拉格光柵：通信波段（1260-1625 nm）波長選擇器件

檢測方法

ASTM E903-2012 材料光譜反射率標準測試方法

ISO 10110-8:2020 光學元件表面質量評定規(guī)范

GB/T 13384-2008 光學零件技術要求與檢測方法

ISO 14999-4:2015 光學元件波前畸變測量規(guī)程

GB/T 15972.40-2021 光纖試驗方法-幾何參數(shù)

檢測設備

1. Zygo NewView 9000干涉儀：表面形貌測量（分辨率0.1 nm）

2. Bruker Contour Elite測輪廓儀：臺階高度測量（精度±0.5 nm）

3. Ocean Optics HR4000光譜儀：衍射效率測試（波長分辨率0.05 nm）

4. Keysight 5500原子力顯微鏡：納米級表面粗糙度分析

5. Renishaw inVia顯微拉曼系統(tǒng)：材料應力分布檢測

6. Agilent Cary 7000分光光度計：全波段透/反射率測量

7. Mitutoyo CMM三坐標測量機：宏觀尺寸精度驗證（±0.1 μm）

8. Thorlabs PAX1000偏振分析儀：偏振相關損耗測試

9. Newport自動準直儀：角度定位精度校準（±1 arcsec）

10. HORIBA LabRAM HR Evolution：薄膜厚度與折射率測定

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質