參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 厚度偏差：測(cè)量軸向截面最大與最小厚度差值（±0.05mm~±0.2mm）

2. 圓度誤差：采用最小二乘法計(jì)算徑向跳動(dòng)量（精度±0.001mm）

3. 表面曲率半徑：基于三點(diǎn)接觸法測(cè)定（范圍R5mm~R2000mm）

4. 軸向?qū)ΨQ(chēng)度：通過(guò)激光干涉儀測(cè)量中心線(xiàn)偏移量（公差±0.02mm/m）

5. 端面平面度：使用光學(xué)平晶進(jìn)行牛頓環(huán)分析（分辨率0.1μm）

檢測(cè)范圍

1. 金屬材料：軸承套圈、齒輪坯件、法蘭盤(pán)等精密機(jī)加工部件

2. 塑料制品：光學(xué)透鏡基材、密封圈模壓件、工程塑料齒輪

3. 橡膠制品：輪胎胎面膠層、減震器彈性元件、傳送帶接駁部位

4. 復(fù)合材料：碳纖維層壓板、陶瓷基復(fù)合裝甲板、玻璃鋼管道

5. 陶瓷材料：半導(dǎo)體晶圓載具、火花塞絕緣體、人工關(guān)節(jié)部件

檢測(cè)方法

1. ASTM E177-20：采用接觸式測(cè)微儀進(jìn)行厚度偏差測(cè)量

2. ISO 12181-1:2011：規(guī)定圓度誤差的濾波與評(píng)定方法

3. GB/T 1800.2-2020：機(jī)械產(chǎn)品幾何量公差標(biāo)注規(guī)范

4. ISO 10110-5:2015：光學(xué)元件表面曲率測(cè)試規(guī)程

5. GB/T 11336-2021：直線(xiàn)度與平面度誤差檢測(cè)通則

檢測(cè)設(shè)備

1. Mitutoyo LSM-500激光測(cè)微儀：非接觸式厚度測(cè)量（分辨率0.01μm）

2. Taylor Hobson Talyrond 585HR圓度儀：主軸精度±0.025μm

3. Zeiss CONTURA G2三坐標(biāo)機(jī)：配備VAST XT gold掃描探頭（空間精度1.9μm）

4. Keyence LJ-V7000線(xiàn)激光掃描儀：Z軸重復(fù)精度0.05μm

5. Olympus DSX1000數(shù)碼顯微鏡：20-7000倍光學(xué)變焦系統(tǒng)

6. Mahr Federal Millimar 1318電子測(cè)微頭：量程0-25mm（精度±0.3μm）

7. Hexagon Absolute Arm 7軸測(cè)量臂：便攜式三維掃描（單點(diǎn)精度15μm）

8. Bruker ContourGT-K光學(xué)輪廓儀：垂直分辨率0.1nm

9. Renishaw XL-80激光干涉儀：線(xiàn)性測(cè)量精度±0.5ppm

10. Starrett 98系列精密水平儀：靈敏度0.02mm/m

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)