參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.溫度測量范圍驗(yàn)證：-50℃至3000℃全量程覆蓋測試

2.基本示值誤差檢測：0.1%FS～0.5%FS分級(jí)評(píng)定

3.時(shí)間響應(yīng)特性測試：τ_0.9≤100ms～500ms分級(jí)考核

4.長期穩(wěn)定性試驗(yàn)：連續(xù)72小時(shí)漂移量≤0.3%

5.環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證：-20℃～+55℃溫度循環(huán)試驗(yàn)

檢測范圍

1.金屬材料熱處理過程用輻射高溫計(jì)

2.陶瓷燒結(jié)窯爐專用紅外測溫系統(tǒng)

3.半導(dǎo)體晶圓加工設(shè)備配套高溫計(jì)

4.化工反應(yīng)釜溫度監(jiān)測裝置

5.航空航天發(fā)動(dòng)機(jī)試驗(yàn)臺(tái)測溫單元

檢測方法

ASTME2847-21《輻射測溫儀校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范》

ISO18434-1:2023《狀態(tài)監(jiān)測與診斷-熱成像第1部分：設(shè)備特性》

GB/T25475-2020《工業(yè)過程測量和控制用輻射溫度計(jì)》

GB/T16839.1-2018《熱電偶第1部分：分度表》

JJG856-2015《工作用輻射溫度計(jì)檢定規(guī)程》

檢測設(shè)備

1.Fluke4180系列精密紅外校準(zhǔn)源（-15℃～1200℃）

2.IsotechR976黑體輻射源（300℃～3000℃）

3.Agilent34970A數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)（6位分辨率）

4.AmetekJOFRARTC-700干式溫度校驗(yàn)爐（-25℃～660℃）

5.KeysightU5856A紅外熱像儀（-20℃～1500℃）

6.BeamexMC6-T溫度校準(zhǔn)儀（雙通道24位ADC）

7.Fluke5626紅外測溫探頭校準(zhǔn)裝置（0.05℃不確定度）

8.LandcalR1500旋轉(zhuǎn)黑體源（直徑150mm發(fā)射面）

9.OMEGACL351X溫度控制器（PID自動(dòng)調(diào)節(jié)）

10.Testo882熱成像系統(tǒng)（640480像素分辨率）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)