參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.共模抑制比（CMRR）：測(cè)試頻率1kHz-10MHz范圍，典型值≥80dB

2.差模電壓增益（Avd）：測(cè)量范圍40-100dB0.5dB誤差

3.輸入失調(diào)電壓（Vos）：精度要求≤1mV@25℃

4.帶寬特性（BW）：-3dB截止頻率測(cè)試范圍DC-100MHz

5.溫度漂移系數(shù)：ΔVos/ΔT≤5μV/℃（-40℃~+85℃溫箱測(cè)試）

6.電源抑制比（PSRR）：15V供電下≥60dB@120Hz

檢測(cè)范圍

1.集成運(yùn)算放大器模塊（如AD620、INA128系列）

2.分立元件差分對(duì)管電路（2N3904/3906配對(duì)晶體管）

3.儀表放大器集成電路（AD8421、LT1167等）

4.射頻差分放大器模塊（工作頻率＞100MHz）

5.醫(yī)用生物電信號(hào)采集前端電路（符合IEC60601標(biāo)準(zhǔn)）

檢測(cè)方法

1.GB/T14028-2020《半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算放大器測(cè)試方法》

2.IEC60748-4-3:2017半導(dǎo)體器件通用規(guī)范第4-3部分

3.ASTMF1800-19差分放大器噪聲系數(shù)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

4.JESD78F_01集成電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試規(guī)范

5.GB/T17626.4-2018電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)

檢測(cè)設(shè)備

1.KeysightDSOX1204A示波器：帶寬200MHz，12bit垂直分辨率

2.TektronixAFG31000信號(hào)發(fā)生器：輸出頻率DC-120MHz0.5ppm精度

3.Keithley2636B源表：最小電流分辨率10fA

4.R&SFPC1500頻譜分析儀：頻率范圍9kHz-3GHz

5.Fluke8588A參考萬用表：8.5位分辨率0.0006%基本精度

6.ESPECSH-641溫控箱：溫度范圍-70℃~+180℃0.5℃波動(dòng)度

7.NFCorporationLI5650鎖相放大器：噪聲基底≤5nV/√Hz

8.AgilentN6705C直流電源模塊：輸出紋波＜350μVrms

9.OmicronLabBode100網(wǎng)絡(luò)分析儀：10Hz-40MHz掃頻測(cè)試

10.Chroma19032-L1電子負(fù)載：最大功率300W0.05%設(shè)定精度

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)