參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1.晶格常數測定：精度0.0001nm（XRD法），涵蓋立方/六方/正交晶系

2.位錯密度分析：分辨率≥10⁶cm^-2（TEM法）

3.空位濃度檢測：靈敏度0.01at%（正電子湮滅譜）

4.原子占位率測定：誤差范圍0.5%（中子衍射法）

5.晶界偏析分析：元素探測限≤50ppm（APT原子探針）

檢測范圍

1.金屬合金：包括鋁合金（AA2000/7000系列）、鈦合金（Ti-6Al-4V）等

2.半導體材料：硅單晶（<111>/<100>取向）、GaN外延層等

3.陶瓷材料：氧化鋯（YSZ）、碳化硅（β-SiC）等

4.納米材料：量子點（CdSe）、金屬納米線（Au,Ag）

5.高溫超導材料：YBCO（YBa₂Cu₃O_7-δ）薄膜

檢測方法

1.X射線衍射法：ASTME975-2020/GB/T8362-2018

2.透射電子顯微術：ISO25498:2018/GB/T27788-2020

3.中子衍射分析：ISO21401:2018

4.原子探針層析技術：ASTME3060-2022

5.同步輻射表征：ISO/TS21383:2021

檢測設備

1.高分辨透射電鏡：JEOLJEM-ARM300F（球差校正型，點分辨率0.08nm）

2.X射線衍射儀：BrukerD8ADVANCE（Cu靶Kα輻射源,λ=0.15406nm）

3.三維原子探針：CAMECALEAP5000XR（探測效率80%，質量分辨率m/Δm≥2000）

4.中子衍射譜儀：ILLD20（波長范圍0.8-5,Δd/d≈0.3%）

5.同步輻射裝置：上海光源BL14B1線站（能量范圍5-20keV）

6.正電子壽命譜儀：ORTECPositronFit系統（時間分辨率230ps）

7.掃描探針顯微鏡：BrukerDimensionIcon（原子級表面形貌表征）

8.聚焦離子束系統：ThermoScientificHeliosG4UX（定位精度10nm）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質