參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.響應(yīng)時(shí)間：測(cè)定材料從受激到達(dá)到90%穩(wěn)態(tài)輸出的時(shí)間（單位：ns-ms）

2.衰減時(shí)間常數(shù)：記錄信號(hào)強(qiáng)度下降至初始值37%所需時(shí)長(zhǎng)（范圍：1μs-10s）

3.上升/下降沿斜率：量化信號(hào)邊沿變化速率（典型值：≥50V/μs）

4.時(shí)域抖動(dòng)：測(cè)量周期信號(hào)邊沿的時(shí)間偏差（精度：0.5psRMS）

5.相位同步誤差：分析多通道系統(tǒng)的時(shí)間對(duì)齊偏差（容差：≤200ps）

檢測(cè)范圍

1.光電探測(cè)器與半導(dǎo)體器件

2.光纖通信系統(tǒng)組件

3.高速數(shù)字電路板

4.熒光標(biāo)記生物試劑

5.輻射探測(cè)晶體材料

檢測(cè)方法

ASTME2305-18光電器件動(dòng)態(tài)響應(yīng)測(cè)試規(guī)程

ISO13695:2019光學(xué)元件時(shí)域特性表征方法

GB/T18901-2013光纖器件時(shí)間分辨率試驗(yàn)程序

IEC60747-5-5:2020半導(dǎo)體分立器件開(kāi)關(guān)時(shí)間測(cè)試

GB5080.7-86設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)下的失效率驗(yàn)證

檢測(cè)設(shè)備

1.KeysightDSAZ634A示波器（80GHz帶寬，256GSa/s采樣率）

2.HamamatsuC12132-01超快光電探測(cè)器（響應(yīng)時(shí)間＜20ps）

3.StanfordResearchDG645數(shù)字延遲發(fā)生器（分辨率5ps）

4.TektronixDPO70000SX系列時(shí)域反射計(jì)（上升時(shí)間8.3ps）

5.Agilent86100D寬帶示波器主機(jī)（支持120Gb/s信號(hào)分析）

6.OphirPD10-PJ光電二極管探頭（光譜范圍200-1100nm）

7.AnritsuMP1900A信號(hào)質(zhì)量分析儀（支持32Gbaud速率）

8.Newport1835-C光功率計(jì)（最小積分時(shí)間10ns）

9.FlukePM6685高精度頻率計(jì)數(shù)器（時(shí)基穩(wěn)定度110??）

10.ThorlabsDET025AFC/M光電探測(cè)器（帶寬12GHz）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)