參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 平均粒徑分布：測(cè)量范圍0.1-500μm，分辨率±0.5nm

2. 晶型結(jié)構(gòu)分析：XRD半峰寬≤0.02°，掃描速率0.5-10°/min

3. 表面粗糙度：Ra值檢測(cè)精度±0.01μm

4. 元素含量測(cè)定：ICP-OES檢出限≤0.1ppm

5. 熱穩(wěn)定性評(píng)估：DSC升溫速率0.1-50℃/min

檢測(cè)范圍

1. 制藥行業(yè)：活性藥物成分(API)晶型

2. 化工材料：聚丙烯成核劑顆粒

3. 金屬材料：鋁合金異質(zhì)形核基底

4. 電子材料：半導(dǎo)體單晶襯底缺陷

5. 陶瓷材料：氧化鋯相變誘導(dǎo)核心

檢測(cè)方法

1. ASTM E1226-19 激光衍射法粒徑分析

2. ISO 13779-3:2018 羥基磷灰石結(jié)晶度測(cè)定

3. GB/T 19077-2016 粒度分布-激光散射法

4. GB/T 30714-2014 X射線衍射定量相分析

5. ISO 11357-3:2018 差示掃描量熱法(DSC)

檢測(cè)設(shè)備

1. Malvern Mastersizer 3000：濕法/干法粒徑分析系統(tǒng)

2. Hitachi SU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡：1nm分辨率形貌表征

3. Rigaku SmartLab X射線衍射儀：9kW旋轉(zhuǎn)陽極發(fā)生器

4. PerkinElmer NexION ICP-MS：亞ppb級(jí)元素分析

5. Netzsch STA 449 F5：同步熱分析儀（TG-DSC）

6. Bruker Dimension Icon原子力顯微鏡：0.1nm縱向分辨率

7. Shimadzu UV-2600i分光光度計(jì)：190-1400nm波長范圍

8. Agilent Cary 630 FTIR：8cm?1光譜分辨率

9. Horiba LabRAM HR Evolution：532nm激光拉曼光譜儀

10. Anton Paar Litesizer 500：動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)