參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 孔距偏差：測(cè)量孔徑中心距公差±0.02mm

2. 平面度誤差：評(píng)估表面平整度≤0.05mm/m2

3. 同軸度偏差：檢測(cè)軸線偏移量≤φ0.03mm

4. 垂直度誤差：驗(yàn)證正交角度偏差±15'

5. 輪廓度偏差：對(duì)比實(shí)際輪廓與理論模型±0.1mm

檢測(cè)范圍

1. 機(jī)械加工件：包括軸類、箱體類零件的定位基準(zhǔn)面

2. PCB電路板：焊盤(pán)位置度與通孔同心度

3. 汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)缸體：曲軸孔組位置公差

4. 注塑模具：型腔分型面配合精度

5. 航空結(jié)構(gòu)件：翼肋安裝孔群坐標(biāo)定位

檢測(cè)方法

1. 三坐標(biāo)測(cè)量法（ISO 10360-2）：空間點(diǎn)云采集與數(shù)學(xué)模型比對(duì)

2. 激光跟蹤儀法（ASME B89.4.19）：動(dòng)態(tài)三維坐標(biāo)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)

3. 影像測(cè)量法（GB/T 24762-2021）：二維特征尺寸數(shù)字化分析

4. 白光干涉法（ISO 25178）：微觀形貌三維重構(gòu)

5. 關(guān)節(jié)臂測(cè)量法（GB/T 34884-2017）：柔性化現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)

檢測(cè)設(shè)備

1. Mitutoyo CRYSTA-Apex S三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：配備Renishaw SP25M掃描探頭，空間精度(1.9+L/250)μm

2. Hexagon Leitz PMM-C Infinity：超高精度橋式測(cè)量機(jī)，單軸定位誤差≤0.3μm

3. FARO Vantage激光跟蹤儀：70m測(cè)量半徑下精度±15μm+6μm/m

4. Keyence IM-8000系列影像儀：配備20倍物鏡實(shí)現(xiàn)±1μm重復(fù)精度

5. Zeiss O-INSPECT 322復(fù)合式測(cè)量機(jī)：整合接觸式與光學(xué)測(cè)量技術(shù)

6. Nikon LC15Dx激光位移計(jì)：非接觸式測(cè)量分辨率0.01μm

7. Olympus DSX1000數(shù)碼顯微鏡：20-7000倍三維形貌分析

8] Wenzel LH系列大型龍門(mén)測(cè)量機(jī)：Z軸行程達(dá)3000mm

9] Renishaw Equator比對(duì)儀：車(chē)間環(huán)境自適應(yīng)補(bǔ)償系統(tǒng)

10] GOM ATOS Q三維掃描儀：藍(lán)光相位條紋投影技術(shù)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)