參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 溫度均勻性：工作腔室±5℃內(nèi)波動(dòng)值測(cè)量（0-1600℃量程）

2. 壓力精度：真空系統(tǒng)保壓能力≤0.1Pa/min泄漏率

3. 機(jī)械定位精度：裝料臂重復(fù)定位誤差≤±0.05mm

4. 熱循環(huán)穩(wěn)定性：連續(xù)100次升降溫（800℃?1200℃）性能驗(yàn)證

5. 密封性能：氦質(zhì)譜檢漏儀測(cè)試≤1×10^-9 Pa·m3/s漏率

檢測(cè)范圍

1. 鈦合金錠料（TC4、TA15等）真空熔煉裝爐系統(tǒng)

2. 高溫合金錠料（GH4169、GH3030等）保護(hù)氣氛裝爐設(shè)備

3. 鋁合金錠料（6061、7075等）連續(xù)式裝爐機(jī)構(gòu)

4. 銅合金錠料（C17200、C5191等）感應(yīng)加熱裝爐裝置

5. 貴金屬錠料（鉑族金屬）特種環(huán)境裝爐設(shè)備

檢測(cè)方法

1. 溫度場(chǎng)測(cè)試：ASTM E928-18熱電偶陣列法結(jié)合紅外熱成像

2. 真空度驗(yàn)證：ISO 21360-1:2012四級(jí)規(guī)管聯(lián)測(cè)法

3. 機(jī)械振動(dòng)分析：GB/T 19873.2-2019三軸加速度計(jì)多點(diǎn)監(jiān)測(cè)

4. 密封性試驗(yàn)：GB/T 34879-2017氦質(zhì)譜累積檢漏法

5. 材料兼容性：ISO 17224:2015高溫腐蝕試驗(yàn)（1000℃/200h）

檢測(cè)設(shè)備

1. FLIR T865紅外熱像儀：-40℃~1500℃溫度場(chǎng)掃描

2. Agilent 5995B四極桿質(zhì)譜儀：真空系統(tǒng)殘余氣體分析

3. KEYENCE LK-G5000激光位移計(jì)：0.01μm級(jí)運(yùn)動(dòng)部件形變監(jiān)測(cè)

4. MKS 925B真空計(jì)組：10^-7~10^3 Pa全量程壓力測(cè)試

5. Bruel&Kjaer 4524-B-001三軸振動(dòng)傳感器：0.1Hz~20kHz頻響

6. ZEISS O-INSPECT 543復(fù)合式三坐標(biāo)：裝料機(jī)構(gòu)三維形位公差測(cè)量

7. AMETEK TMO525-A高溫?zé)犭娕夹ｒ?yàn)爐：300℃~1700℃標(biāo)定系統(tǒng)

8. INFICON UL3000 Fab氦檢漏儀：5×10^-13 Pa·m3/s靈敏度

9. HBM PMX數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：128通道同步采樣（24bit分辨率）

10. SCHENCK V6動(dòng)平衡儀：旋轉(zhuǎn)部件≤0.1g·mm/kg不平衡量檢測(cè)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)