帶狀硅太陽(yáng)電池檢測(cè)摘要:帶狀硅太陽(yáng)電池檢測(cè)是評(píng)估其光電性能與可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié),涵蓋材料特性、電學(xué)參數(shù)及環(huán)境適應(yīng)性等核心指標(biāo)。本文從檢測(cè)項(xiàng)目、范圍、方法及設(shè)備四方面系統(tǒng)闡述技術(shù)要點(diǎn),重點(diǎn)解析轉(zhuǎn)換效率、光譜響應(yīng)、機(jī)械載荷等關(guān)鍵參數(shù)的測(cè)試規(guī)范與標(biāo)準(zhǔn)依據(jù),為質(zhì)量控制提供科學(xué)支撐。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1. 光電轉(zhuǎn)換效率:測(cè)量AM1.5標(biāo)準(zhǔn)光照條件下的最大功率輸出(Pmax),典型值范圍18%-22%
2. 開(kāi)路電壓(Voc):測(cè)試無(wú)負(fù)載條件下的最大輸出電壓(0.6-0.7V)
3. 短路電流(Isc):測(cè)定短路狀態(tài)下的最大輸出電流(8-10A/片)
4. 填充因子(FF):計(jì)算實(shí)際功率與理論功率比值(≥75%)
5. 溫度系數(shù):評(píng)估功率溫度系數(shù)(-0.45%/℃至-0.35%/℃)及電壓溫度系數(shù)(-0.3%/℃至-0.2%/℃)
1. 單晶硅帶狀電池片(Mono-Si Ribbon)
2. 多晶硅帶狀電池片(Multi-Si Ribbon)
3. 光伏玻璃封裝組件
4. EVA膠膜層壓件
5. 背板材料(TPT/KPK結(jié)構(gòu))
1. IEC 61215-2:2021 地面用晶體硅光伏組件設(shè)計(jì)鑒定和型式認(rèn)可
2. ASTM E1036-15 光伏模塊電性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
3. GB/T 6495.3-1996 光伏器件第3部分:地面用光伏器件的測(cè)量原理及標(biāo)準(zhǔn)光譜輻照度數(shù)據(jù)
4. ISO 9060:2018 太陽(yáng)模擬器性能規(guī)范
5. GB/T 29551-2013 建筑用太陽(yáng)能光伏夾層玻璃
1. Berger PSL-100T IV測(cè)試儀:配備AAA級(jí)太陽(yáng)模擬器(輻照度1000W/m2±2%)
2. Chroma 19053耐壓測(cè)試儀:直流電壓0-5kV可調(diào)(精度±1%)
3. ESPEC PL-3KPH氣候箱:溫度范圍-40℃~+150℃,濕度控制10%~98%RH
4. BT Imaging LIS-R1 EL檢測(cè)儀:分辨率2048×2048像素,缺陷識(shí)別精度50μm
5. Instron 5967萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī):最大載荷50kN(符合IEC 61215機(jī)械載荷測(cè)試)
6. Agilent B2902A精密源表:電流分辨率10fA,電壓分辨率1μV
7. Bentham PVE300量子效率測(cè)試系統(tǒng):光譜范圍300-1200nm(精度±2%)
8. FLIR T865紅外熱像儀:熱靈敏度≤40mK@30℃
9. HIOKI IM3593阻抗分析儀:頻率范圍0.01Hz~200kHz
10. BYK Gardner haze-gard i霧度計(jì):透光率測(cè)量精度±0.1%
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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