參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 化學(xué)成分分析：測(cè)定SiO?(40-50%)、Al?O?(20-30%)、Na?O(10-15%)等主量元素含量

2. 晶體結(jié)構(gòu)鑒定：晶胞參數(shù)(a=7.35±0.02?)、空間群(I4/mcm)驗(yàn)證

3. 熱膨脹系數(shù)測(cè)試：20-800℃范圍內(nèi)CTE≤3.5×10??/℃

4. 抗壓強(qiáng)度測(cè)試：標(biāo)準(zhǔn)試樣≥120MPa

5. 孔隙率測(cè)定：開孔率≤2%，閉孔率≤1.5%

檢測(cè)范圍

1. 天然方納石礦物標(biāo)本

2. 陶瓷工業(yè)用合成方納石原料

3. 核廢料固化基材制品

4. 催化劑載體材料

5. 特種玻璃生產(chǎn)用改性添加劑

檢測(cè)方法

1. X射線衍射分析：ASTM D3906/GB/T 17432

2. X射線熒光光譜法：ISO 12677/GB/T 21114

3. 熱膨脹儀法：ASTM E228/GB/T 7320

4. 壓汞法孔隙測(cè)試：ISO 15901-1/GB/T 21650.1

5. ICP-OES元素分析：EPA 6010D/GB/T 23942

檢測(cè)設(shè)備

1. Rigaku SmartLab 9kW X射線衍射儀：高精度晶體結(jié)構(gòu)分析

2. Shimadzu EDX-8000 X熒光光譜儀：元素快速定量檢測(cè)

3. Netzsch DIL402C熱膨脹儀：-150℃~1600℃熱力學(xué)測(cè)試

4. Micromeritics AutoPore V9600壓汞儀：4nm-360μm孔徑測(cè)量

5. PerkinElmer Avio 550 ICP-OES：ppm級(jí)微量元素分析

6. Instron 5985萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)：200kN載荷力學(xué)測(cè)試

7. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：0.01-3500μm粒徑分布

8. TA Instruments SDT650熱重分析儀：同步熱重-差熱聯(lián)用

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)