參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 電阻值測試：直流電阻（0.1mΩ-100MΩ）、接觸電阻（≤50mΩ）、方阻（5-500Ω/□），測試電流范圍0.1mA-10A

2. 導通性驗證：導通閾值≤1Ω（IPC-6012 Class 3標準），斷點定位精度±0.05mm

3. 絕緣電阻測量：測試電壓DC 500V-1000V（IEC 60664-1），絕緣阻抗≥100MΩ·cm

4. 耐壓強度試驗：AC 3kV-5kV（GB/T 3048.8），漏電流閾值≤5mA

5. 溫升特性分析：負載電流10A-200A持續(xù)通電試驗（UL 508A），溫度監(jiān)測精度±0.5℃

檢測范圍

1. 金屬基材：銅箔（12-105μm）、鋁基板（1.0-3.0mm）、銀漿線路（方阻≤50mΩ/□）

2. PCB組件：多層板（4-32層）、HDI板（線寬/間距≥50μm）、剛撓結合板

3. 電子元器件：連接器接觸件（鍍金層≥0.2μm）、繼電器觸點（接觸電阻≤20mΩ）

4. 柔性電路：FPC基材（PI膜厚12.5-50μm）、納米銀線透明導電膜（透光率≥85%）

5. 線纜組件：同軸電纜（特性阻抗50/75Ω±2%）、多芯屏蔽線（絕緣耐壓≥AC 1500V）

檢測方法

1. ASTM B193-20：導體材料電阻率四線法測量（恒流源精度±0.05%）

2. IPC-TM-650 2.6.3：印制板導通性飛針測試（最小探測間距0.1mm）

3. GB/T 3048.3-2020：電纜導體直流電阻三電極法測量（環(huán)境溫度23±1℃）

4. IEC 60112:2020：材料耐漏電起痕指數(shù)測定（液滴間隔30±5s）

5. ISO 2178:2016：非磁性基體鍍層厚度磁感應法測量（分辨率0.1μm）

檢測設備

1. Keysight 34461A數(shù)字萬用表：6?位分辨率，基本DCV精度±0.0035%，支持四線制電阻測量

2. Chroma 19032耐壓測試儀：AC 5kV/DC 6kV輸出，上升時間可調(diào)1-999s

3. OLYMPUS MX63L金相顯微鏡：5000倍光學放大，配備導電粒子自動計數(shù)模塊

4. Hioki RM3545微電阻計：0.01μΩ分辨率，最大測試電流10A（四端子測量）

5. Tektronix DMM6500數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：同步記錄溫度/電壓/電流參數(shù)（采樣率1MHz）

6. FLIR A700紅外熱像儀：熱靈敏度＜40mK，支持實時溫升曲線分析

7. Agilent 4294A阻抗分析儀：頻率范圍40Hz-110MHz，基本精度±0.08%

8. BYTEK BT-520接觸電阻測試儀：符合MIL-STD-202G標準，接觸壓力可調(diào)0-5N

9. HIOKI IR4056絕緣電阻計：測量范圍10kΩ-10TΩ，測試電壓DC 50-1000V可調(diào)

10. Cybertek CJ2675安規(guī)綜合測試儀：集成接地/耐壓/絕緣三合一測試功能

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)