參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 電導(dǎo)率測試：測量范圍0.1-1000 μS/cm，精度±0.5%

2. 表面粗糙度分析：Ra值0.01-10 μm，采用3D輪廓掃描

3. 元素分布均勻性：EDS面掃分辨率≤1 μm

4. 熱穩(wěn)定性測試：溫度范圍-196℃~1200℃，升溫速率10℃/min

5. 循環(huán)伏安特性：掃描速率0.1-100 mV/s，電位窗口±3 V

檢測范圍

1. 金屬基非晶合金電極（如Fe-Si-B系）

2. 氧化物基非晶薄膜電極（如ITO/ZrO?復(fù)合體系）

3. 硫系玻璃半導(dǎo)體電極

4. 聚合物-無機物復(fù)合電極

5. 高熵合金非晶電極材料

檢測方法

1. ASTM E112-13 晶粒尺寸測定法（適用于相分離分析）

2. ISO 17475:2005 電化學阻抗譜測試規(guī)范

3. GB/T 4339-2008 金屬材料熱膨脹系數(shù)測定

4. ISO 18516:2006 表面化學成分分析標準

5. GB/T 24525-2009 非晶態(tài)合金帶材力學性能試驗

檢測設(shè)備

1. 四探針電阻率測試儀（Loresta-GP MCP-T610）

2. 場發(fā)射掃描電鏡（Hitachi SU5000）

3. X射線光電子能譜儀（Thermo Scientific K-Alpha+）

4. 同步熱分析儀（NETZSCH STA 449 F5）

5. 電化學工作站（CHI760E）

6. 納米壓痕儀（Hysitron TI Premier）

7. X射線衍射儀（Bruker D8 ADVANCE）

8. 原子力顯微鏡（Bruker Dimension Icon）

9. 氦氣孔隙率測定儀（Micromeritics AccuPyc II 1340）

10. 高溫氧化試驗箱（CVD Equipment Corp GSL-1700X）

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)