參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 發(fā)射率測(cè)試：波長(zhǎng)范圍2.5-14μm，測(cè)量精度±0.002

2. 溫度均勻性：軸向梯度≤0.3℃/cm（100-500℃區(qū)間）

3. 溫度穩(wěn)定性：24小時(shí)漂移量≤±0.1℃（恒溫模式）

4. 開(kāi)口輻射特性：有效輻射面積偏差≤±1.5%

5. 光譜響應(yīng)度：400-4000cm?1波段線性度≥99.5%

檢測(cè)范圍

1. 紅外校準(zhǔn)用黑體輻射源（工作溫度-50℃~3000℃）

2. 高溫合金涂層黑體腔（耐溫≥1600℃）

3. 航天器熱控系統(tǒng)用真空黑體組件

4. 工業(yè)測(cè)溫系統(tǒng)配套基準(zhǔn)黑體源

5. 實(shí)驗(yàn)室級(jí)可調(diào)諧黑體輻射裝置

檢測(cè)方法

1. ASTM E307-08《標(biāo)準(zhǔn)紅外光譜發(fā)射率測(cè)試方法》

2. ISO 18434-1:2008《熱成像系統(tǒng)性能評(píng)估規(guī)范》

3. GB/T 11158-2008《高溫試驗(yàn)用黑體輻射源技術(shù)要求》

4. GB/T 26193-2010《紅外輻射測(cè)溫儀校準(zhǔn)規(guī)范》

5. IEC 62464-1:2019《電磁兼容性測(cè)試用輻射源標(biāo)準(zhǔn)》

檢測(cè)設(shè)備

1. Fluke 4180系列精密紅外校準(zhǔn)器（發(fā)射率校準(zhǔn)）

2. Isotech R976黑體輻射源（溫度范圍-30~1200℃）

3. Optris CTlaser 3MHZ高速熱像儀（空間分辨率15μm）

4. Keysight N6705C直流電源分析儀（供電穩(wěn)定性測(cè)試）

5. Agilent 34970A數(shù)據(jù)采集儀（溫度數(shù)據(jù)記錄）

6. Bruker VERTEX 80v傅里葉光譜儀（光譜特性分析）

7. Labsphere SSR-ER輻射度校準(zhǔn)系統(tǒng)（絕對(duì)輻射定標(biāo)）

8. Flir X8580sc科研級(jí)紅外相機(jī)（熱分布成像）

9. Newport 818系列光功率計(jì)（輻射通量測(cè)量）

10. Keithley 2450源表（電學(xué)特性綜合測(cè)試）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)