參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 表面形變監(jiān)測(cè)：精度±0.5mm/年，空間分辨率3m×3m

2. 材料內(nèi)部缺陷識(shí)別：最小可檢缺陷尺寸Φ2mm×0.5mm

3. 振動(dòng)頻率分析：測(cè)量范圍0.1-200Hz，分辨率0.01Hz

4. 熱膨脹系數(shù)測(cè)定：溫度控制范圍-40℃~+150℃，精度±0.1μm/℃

5. 分層厚度測(cè)量：層間分辨率10μm，最大穿透深度50cm

6. 應(yīng)力分布成像：應(yīng)變靈敏度50με，掃描速度≥10m2/min

檢測(cè)范圍

1. 航空航天復(fù)合材料：包括CFRP/GFRP層壓板及蜂窩夾芯結(jié)構(gòu)

2. 大型金屬結(jié)構(gòu)件：橋梁鋼箱梁、壓力容器焊縫區(qū)域

3. 地質(zhì)巖土體：滑坡體位移監(jiān)測(cè)范圍≥10km2

4. 混凝土建筑結(jié)構(gòu)：裂縫擴(kuò)展監(jiān)測(cè)精度達(dá)0.2mm

5. 電子封裝器件：BGA焊點(diǎn)熱變形量程±200μm

6. 文化遺產(chǎn)建筑：木石結(jié)構(gòu)微變形長(zhǎng)期監(jiān)測(cè)

檢測(cè)方法

ASTM E3031-15：差分干涉雷達(dá)測(cè)量材料表面位移標(biāo)準(zhǔn)方法

ISO 18436-5：機(jī)械振動(dòng)與沖擊的雷達(dá)式非接觸測(cè)量規(guī)范

GB/T 35129-2017：合成孔徑雷達(dá)干涉測(cè)量技術(shù)規(guī)范

GB/T 39264-2020：橋梁結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)系統(tǒng)技術(shù)要求

ISO 14839-4：旋轉(zhuǎn)機(jī)械軸系振動(dòng)監(jiān)測(cè)的相位分析方法

ASTM D7294-13：復(fù)合材料分層缺陷定量評(píng)估指南

檢測(cè)設(shè)備

1. TerraSAR-X雙頻干涉系統(tǒng)：X波段（9.65GHz），聚束模式分辨率0.25m

2. PSI9000地基雷達(dá)：Ku波段（17.2GHz），最大作用距離4km

3. IDS GeoRadar RIS One：UWB脈沖體制（200-4000MHz），穿透深度30m

4. SIR-3000便攜式干涉儀：C波段（5.4GHz），實(shí)時(shí)形變顯示功能

5. RSTAR R400陣列天線系統(tǒng)：多極化模式（VV/HV/HH），掃描速率120°/s

6. GBSAR系統(tǒng)：L波段（1.2GHz），適用于大范圍地表形變監(jiān)測(cè)

7. InSAR Pro處理器：支持DInSAR/PSInSAR/SBAS多模式數(shù)據(jù)處理

8. OptiTrack相位校準(zhǔn)裝置：校準(zhǔn)精度λ/100（@10GHz）

9. WavePro矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：頻率范圍10MHz-67GHz，動(dòng)態(tài)范圍140dB

10. DIC-RADAR聯(lián)合平臺(tái)：實(shí)現(xiàn)光學(xué)與微波測(cè)量數(shù)據(jù)融合分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)