国模无码视频一区二区三区,国模精品一区二区,国模沟沟一区二区三区,国精品午夜福利视频不卡麻豆

400-6350567

奧氏體晶粒度檢測

2025-04-27 關鍵詞:奧氏體晶粒度測試范圍,奧氏體晶粒度測試周期,奧氏體晶粒度測試案例 相關:
奧氏體晶粒度檢測

奧氏體晶粒度檢測摘要:奧氏體晶粒度檢測是評估金屬材料熱處理質量的關鍵指標之一,直接影響材料的力學性能和耐腐蝕性。本文系統(tǒng)闡述晶粒度檢測的核心項目、適用材料范圍、標準化方法及專用設備配置,重點解析ASTME112與GB/T6394標準下的金相法操作要點與誤差控制要求。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1. 晶粒平均直徑測量:測量范圍0.01-500μm,精度±0.5μm

2. 晶粒度級別數測定:按ASTM E112標準評定G值(1-12級)

3. 晶界清晰度評估:采用灰度對比度≥80%的成像標準

4. 晶粒均勻性分析:允許偏差≤±1級

5. 異常晶粒比例統(tǒng)計:最大異常晶粒面積占比≤10%

檢測范圍

1. 不銹鋼:304/316L等奧氏體不銹鋼鍛件

2. 合金結構鋼:20CrMnTi、42CrMo等滲碳/調質件

3. 高溫合金:GH4169渦輪盤及葉片

4. 工具鋼:Cr12MoV冷作模具鋼

5. 鎳基合金:Inconel 718壓力容器構件

檢測方法

1. ASTM E112-13:標準測試方法規(guī)定3種浸蝕劑(苦味酸+洗滌劑、飽和苦味酸乙醇溶液)

2. ISO 643:2019:要求使用500×物鏡進行基準校準

3. GB/T 6394-2017:規(guī)定比較法測量時的標準圖譜比對流程

4. GB/T 13298-2015:明確金相試樣制備的研磨粒度序列(P240-P2000)

5. JIS G0551:2013:限定電解拋光參數(電壓20V,時間30s)

檢測設備

1. 蔡司Axio Imager A2m金相顯微鏡:配備500×物鏡及微分干涉對比模塊

2. 奧林巴斯GX71倒置顯微鏡:集成15萬像素CMOS傳感器

3. Struers Tegramin-30自動磨拋機:預設12道研磨程序

4. Buehler Phoenix Beta真空鑲嵌機:最高壓力300kN

5. Clemex PEARL圖像分析系統(tǒng):支持ASTM E112自動評級

6. Leica EM TXP精密切割機:切割精度±0.01mm

7. 島津HMV-G21顯微硬度計:加載力10gf-2kgf可調

8. AmScope MU1803數碼相機:分辨率4896×3672像素

9. Mitutoyo MF-U系列物鏡測微尺:校準精度0.01μm

10. Thermo Scientific Nicolet iN10傅里葉紅外光譜儀:用于殘留腐蝕劑分析

北京中科光析科學技術研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務。

中析儀器 資質

中析奧氏體晶粒度檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

相關檢測

聯(lián)系我們

熱門檢測

上一篇:樁檢測