參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

1. 存儲單元穩(wěn)定性測試：讀取誤碼率≤1×10??@3.3V±5%

2. 讀取速度驗(yàn)證：地址訪問時(shí)間≤15ns@25℃±2℃

3. 功耗特性分析：靜態(tài)電流≤5μA@待機(jī)模式

4. 溫度適應(yīng)性測試：數(shù)據(jù)保持能力(-40℃~125℃)

5. 抗干擾能力評估：VCC波動容限±10%

檢測范圍

1. 掩膜編程ROM（MASK ROM）芯片

2. 可編程只讀存儲器（PROM）模塊

3. 紫外線擦除EPROM器件

4. 電擦除EEPROM集成電路

5. 嵌入式系統(tǒng)專用OTP存儲器

檢測方法

1. ASTM F1245-16半導(dǎo)體存儲器功能驗(yàn)證規(guī)程

2. ISO 26262-2018道路車輛功能安全標(biāo)準(zhǔn)

3. GB/T 17574-2021半導(dǎo)體器件通用規(guī)范

4. IEC 60749-20:2020半導(dǎo)體環(huán)境試驗(yàn)方法

5. JEDEC JESD22-A117E數(shù)據(jù)保持能力測試

檢測設(shè)備

1. Keysight B1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀（IV/CV特性測量）

2. Advantest T2000存儲器測試系統(tǒng)（高速功能驗(yàn)證）

3. ThermoStream T-2600溫度沖擊試驗(yàn)箱（-65℃~+200℃）

4. Tektronix DPO73304S示波器（30GHz帶寬時(shí)序分析）

5. Chroma 3380可編程電源（±0.05%電壓精度）

6. ESPEC PL-3K光照老化試驗(yàn)箱（紫外加速老化）

7. Agilent 4294A阻抗分析儀（寄生參數(shù)測量）

8. NI PXIe-6570數(shù)字模式發(fā)生器（信號完整性測試）

9. Fluke 287真有效值萬用表（接觸電阻測量）

10. HASA HAST-242S高壓加速壽命試驗(yàn)箱（85℃/85%RH）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)