參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1. 溫度分辨率：最小可識(shí)別溫差≤0.02℃@30℃

2. 光譜響應(yīng)范圍：8-14μm波段靈敏度偏差≤±3%

3. 噪聲等效溫差（NETD）：≤40mK@25℃

4. 空間分辨率：瞬時(shí)視場角≤0.5mrad

5. 輻射定標(biāo)精度：黑體輻射源標(biāo)定誤差≤±1%

6. 幀頻穩(wěn)定性：全幅模式下≥60Hz波動(dòng)率＜2%

檢測范圍

1. 金屬材料：鈦合金/鋁合金焊接缺陷熱分布分析

2. 復(fù)合材料：碳纖維層壓板分層缺陷識(shí)別

3. 電子元件：PCB板熱流密度分布（0.5-10W/cm2）

4. 光伏材料：太陽能電池片隱裂探測（裂紋尺寸≥50μm）

5. 航空航天部件：渦輪葉片冷卻通道堵塞檢測（深度≥3mm）

6. 建筑圍護(hù)結(jié)構(gòu)：外墻空鼓缺陷定位精度±5cm

檢測方法

1. ASTM E1863-20：熱成像系統(tǒng)性能表征標(biāo)準(zhǔn)

2. ISO 18434-1：機(jī)械設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測與診斷標(biāo)準(zhǔn)

3. GB/T 19870-2018：工業(yè)檢測型紅外熱像儀技術(shù)要求

4. GB/T 12604.9-2021：無損檢測術(shù)語紅外檢測

5. IEC 62446-1：光伏系統(tǒng)紅外檢測規(guī)程

6. MIL-STD-3021：軍用裝備紅外成像驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)

檢測設(shè)備

1. FLIR T1030sc：1024×768分辨率，NETD＜18mK@30Hz幀頻

2. NEC Avio H2640：640×480分辨率，支持多光譜融合分析

3. Testo 890：超像素模式達(dá)320×240，熱靈敏度0.03℃

4. CI Systems SR-800N：寬波段（3-14μm）輻射定標(biāo)系統(tǒng)

5. Optris PI640：USB3.0接口高速成像（120Hz@640×480）

6. Keysight U5855A：集成AI缺陷識(shí)別算法庫

7. InfraTec ImageIR8300：制冷型中波紅外（3-5μm）探測器

8. Xenics Gobi640：太赫茲-紅外雙模成像系統(tǒng)

9. Telops Hyper-Cam LW：高光譜分辨率（0.25cm?1）傅里葉變換系統(tǒng)

10. IRCAM Equus 327k：百萬像素級(jí)（1280×1024）科研級(jí)熱像儀

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)