參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 擊穿電壓：測量材料在標準電極間距（0.5-2.0mm）下的臨界擊穿電壓值（kV/mm）

2. 臨界厚度：測定不同材料厚度（0.1-5.0mm）對應(yīng)的擊穿強度變化率

3. 介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）：頻率范圍50Hz-1MHz下的介電損耗特性

4. 局部放電量：記錄預(yù)放電階段PDIV（局部放電起始電壓）與重復(fù)率（pC/cycle）

5. 溫度系數(shù)：在-40℃至150℃溫區(qū)內(nèi)測試擊穿強度溫度衰減系數(shù)（%/℃）

檢測范圍

1. 高分子薄膜材料：PET、PI、PTFE等絕緣膜材（厚度0.05-0.5mm）

2. 電力設(shè)備絕緣件：變壓器套管、電纜終端附件（電壓等級10-500kV）

3. 電子封裝材料：IC封裝環(huán)氧樹脂、底部填充膠（粘度500-5000cps）

4. 醫(yī)療器械密封件：輸液袋多層共擠膜、醫(yī)用硅膠墊片（孔徑≤10μm）

5. 新能源電池組件：鋰電隔膜陶瓷涂層（孔隙率30-60%，孔徑50-300nm）

檢測方法

1. ASTM D149：標準電極法測定固體電絕緣材料工頻擊穿電壓

2. IEC 60243-1：采用錐形電極測定薄層材料交流擊穿強度

3. GB/T 1408.1：絕緣材料電氣強度試驗方法（工頻下短時升壓法）

4. ISO 1853：導(dǎo)電橡膠材料體積電阻率與擊穿場強聯(lián)合測試規(guī)程

5. JIS C2110：高頻脈沖法測定納米復(fù)合材料的局部放電特性

檢測設(shè)備

1. Hipotronics DC-100：直流擊穿測試系統(tǒng)（輸出電壓0-100kV,精度±1%）

2. Chroma 19032：交流耐壓測試儀（頻率40-70Hz可調(diào),容量5kVA）

3. Omicron MPD600：多通道局部放電分析儀（帶寬200kHz-20MHz）

4. Keysight E4980A：精密LCR表（基本精度0.05%,頻率20Hz-2MHz）

5. Thermo Scientific CIRAS：高低溫試驗箱（溫控范圍-70℃至+300℃）

6. Mitutoyo LSM-902S：激光測厚儀（分辨率0.1μm,測量速度200點/秒）

7. Bruker ContourGT-X3：白光干涉表面形貌儀（縱向分辨率0.1nm）

8. Electro-Tech Systems Model 2300：真空浸漬裝置（真空度≤10Pa）

9. Labthink TSY-T3：透氣性測試儀（孔徑分析范圍0.01-500μm）

10. Agilent 4294A：阻抗分析儀（測試頻率40Hz-110MHz,基本精度±0.8%）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)