參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.反射率偏差：波長(zhǎng)650nm/780nm條件下測(cè)量0.05范圍波動(dòng)值

2.誤碼率閾值：采用CLV/CAV模式測(cè)試BLER≤220ECC不可糾錯(cuò)率

3.記錄層靈敏度：激光功率3.5-5.5mW區(qū)間寫(xiě)入成功率≥99.8%

4.翹曲度：徑向/切向形變量≤0.6（25℃/50%RH環(huán)境）

5.耐候性測(cè)試：85℃/85%RH加速老化240小時(shí)后的數(shù)據(jù)完整性保持率

檢測(cè)范圍

1.CD-RW（700MB/80min可擦寫(xiě)光盤(pán)）

2.DVDRW（單層4.7GB/雙層8.5GB介質(zhì)）

3.BD-RE（25GB/50GB藍(lán)光可擦寫(xiě)光盤(pán)）

4.M-DISC歸檔級(jí)可重寫(xiě)光盤(pán)

5.特殊環(huán)境用抗磁化光碟（軍工/航天領(lǐng)域）

檢測(cè)方法

1.ISO/IEC17321:2015規(guī)定光學(xué)參數(shù)測(cè)量流程

2.GB/T26243-2010光盤(pán)產(chǎn)品通用技術(shù)條件

3.ASTMD5272加速老化試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序

4.JISX6243:2019記錄介質(zhì)耐久性評(píng)估方法

5.ECMA-379藍(lán)光光盤(pán)機(jī)械特性測(cè)試規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.PerkinElmerLambda1050+分光光度計(jì)：0.1nm分辨率反射譜分析

2.PulstecODU-1000誤碼率測(cè)試儀：支持24X高速掃描模式

3.MitutoyoCrysta-ApexS574三坐標(biāo)儀：0.1μm級(jí)翹曲度測(cè)量

4.ESPECPL-3J恒溫恒濕箱：溫度范圍-40℃~150℃

5.Newport1835-C激光功率校準(zhǔn)系統(tǒng)：0.1mW精度輸出控制

6.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡：5000倍表面缺陷觀(guān)測(cè)

7.ShimadzuAGS-X萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)：10N載荷機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試

8.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：納米級(jí)溝槽深度測(cè)量

9.Agilent4294A阻抗分析儀：介質(zhì)層介電常數(shù)測(cè)定

10.HitachiSU8010場(chǎng)發(fā)射電鏡：記錄層微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)