參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.孔徑尺寸偏差：測(cè)量實(shí)際孔徑與設(shè)計(jì)值的差異范圍（0.005mm~0.02mm）
2.圓度誤差：評(píng)估孔截面最大半徑差（≤0.003D,D為標(biāo)稱直徑）
3.錐角一致性：檢測(cè)錐形孔角度偏差（0.1~0.5）
4.位置度公差：分析多孔陣列中心距偏差（0.01mm~0.05mm）
5.表面粗糙度：測(cè)量Ra值（0.1μm~3.2μm）及Rz值（0.8μm~12.5μm）

檢測(cè)范圍

1.金屬材料?？祝喊ㄓ操|(zhì)合金沖壓模、鋁合金壓鑄模等
2.高分子材料?？祝鹤⑺苣＞邼部?、擠出模頭流道等
3.陶瓷材料微孔：燃料電池雙極板流道、MEMS器件微孔等
4.復(fù)合材料成型模孔：碳纖維預(yù)浸料成型模具等
5.精密光學(xué)元件模具：導(dǎo)光板網(wǎng)點(diǎn)模具、菲涅爾透鏡模具等

檢測(cè)方法

1.ISO12180:2011幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)圓柱度評(píng)定
2.ASTME2919-22光學(xué)三維形貌測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)方法
3.GB/T1958-2017產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差
4.ISO25178-604:2013非接觸式光學(xué)輪廓儀測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
5.GB/T1031-2009表面粗糙度參數(shù)及其數(shù)值

檢測(cè)設(shè)備

1.MitutoyoCRYSTA-ApexS系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（接觸式三維測(cè)量）
2.KeyenceVR-6000激光掃描顯微鏡（亞微米級(jí)表面形貌分析）
3.ZeissO-INSPECT543復(fù)合式測(cè)量系統(tǒng)（光學(xué)+接觸式復(fù)合測(cè)量）
4.NikonNEXIVVMZ-S2020光學(xué)影像測(cè)量儀（二維尺寸快速測(cè)量）
5.TaylorHobsonFormTalysurfPGINOVUS輪廓儀（納米級(jí)粗糙度測(cè)量）
6.HexagonAbsoluteArm7-Axis激光掃描臂（現(xiàn)場(chǎng)大尺寸模具測(cè)量）
7.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡（微孔三維重構(gòu)）
8.RenishawPH20五軸觸發(fā)測(cè)頭系統(tǒng)（復(fù)雜角度孔位測(cè)量）
9.GOMATOSQ三維光學(xué)掃描儀（全尺寸數(shù)字化比對(duì)）
10.MitutoyoSurftestSJ-410粗糙度儀（接觸式表面紋理分析）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)