參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.基材平均厚度：測量范圍0.1-300mm，精度0.5μm
2.涂層/鍍層厚度：單層0.01-2000μm，多層疊加測量
3.厚度偏差率：允許公差1%-10%（按材料類別）
4.最小局部厚度：臨界值監(jiān)測（如管道焊縫區(qū)）
5.厚度均勻性：平面度≤0.02mm/m

檢測范圍

1.金屬板材：冷軋鋼板（0.3-6mm）、鋁箔（6-200μm）
2.塑料薄膜：BOPP/PET薄膜（8-150μm）
3.復(fù)合材料：碳纖維預(yù)浸料（0.1-0.5mm）
4.涂層制品：電泳漆層（15-30μm）、熱浸鋅層（50-300μm）
5.橡膠制品：密封圈（1-20mm）、輸送帶（5-50mm）

檢測方法

1.超聲波測厚法：ASTMB499/GB/T11344（非破壞測量）
2.磁性感應(yīng)法：ISO2178/GB/T4956（鐵基鍍層測量）
3.渦流檢測法：ISO2360/GB/T4957（非鐵金屬基材）
4.光學(xué)干涉法：ISO3497（超薄涂層納米級(jí)測量）
5.機(jī)械接觸法：GB/T1219（千分尺/測厚規(guī)直接測量）

檢測設(shè)備

1.Mitutoyo293-831數(shù)顯千分尺：分辨率0.001mm（金屬板材）
2.Olympus38DLPLUS超聲波測厚儀：頻率5MHz（復(fù)合材質(zhì)）
3.Elcometer456涂層測厚儀：磁感應(yīng)/渦流雙模式
4.ZeissAxioImager金相顯微鏡：配合DIC微分干涉模塊
5.KeyenceLK-G5000激光位移計(jì)：非接觸式0.05μm精度
6.FischerMP0手持式X射線測厚儀：鍍層成分同步分析
7.TiniusOlsenH10K-T硬度計(jì)：結(jié)合壓痕法間接測厚
8.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：3D膜厚分布成像
9.Starrett734機(jī)械式測厚規(guī)：量程0-25mm（橡膠制品）
10.HeidenhainMT2571磁柵測頭：高溫環(huán)境在線監(jiān)測

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)