參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.能帶結(jié)構(gòu)分析：測量能量范圍10eV內(nèi)電子態(tài)分布，動量分辨率≤0.01?

2.費米面拓撲表征：三維動量空間成像精度達0.005?

3.局域態(tài)密度測量：能量分辨率≤5meV@1K低溫環(huán)境

4.自旋極化率測試：極化角分辨精度0.1

5.相位相干長度測定：空間分辨率優(yōu)于0.1nm

檢測范圍

1.III-V族半導體異質(zhì)結(jié)（GaAs/AlGaAs等）

2.高溫超導銅氧化物（YBCO、BSCCO等）

3.二維材料體系（石墨烯、過渡金屬硫化物）

4.拓撲絕緣體單晶（Bi?Se?、Sb?Te?）

5.量子點陣列器件（CdSe/ZnS核殼結(jié)構(gòu)）

檢測方法

1.角分辨光電子能譜法（ARPES）：符合ISO18516:2019表面分析標準

2.掃描隧道顯微譜學（STS）：執(zhí)行GB/T35031-2018納米尺度電學測量規(guī)范

3.X射線光電子衍射（XPD）：參照ASTME2108-16表面結(jié)構(gòu)分析規(guī)程

4.磁光克爾效應測量：采用GB/T40793-2021磁有序材料測試方法

5.超快時間分辨光譜：依據(jù)ISO/TR19838:2016時間分辨光譜技術指南

檢測設備

1.SPECSPHOIBOS150半球形分析器：能量分辨率<3meV@5kV加速電壓

2.ScientaOmicronDA30L角分辨譜儀：最大接受角30，動量精度0.002?

3.OmicronLT-STM低溫掃描隧道顯微鏡：工作溫度0.4K，空間分辨率0.05nm

4.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：CuKα光源(λ=1.5406)，角度重復性0.0001

5.AttocubeattoDRY2100閉循環(huán)制冷系統(tǒng)：基礎溫度<300mK，磁場強度14T

6.JEOLJEM-ARM300F球差校正電鏡：空間分辨率0.05nm@300kV

7.OxfordInstrumentsSpectromag系統(tǒng)：旋轉(zhuǎn)樣品架角度精度0.01

8.RHKTechnologyR9控制器：電流靈敏度10fA@1kHz帶寬

9.FemtoLASERSCEPHEUSHR高頻激光器：脈沖寬度<15fs@800nm波長

10.LakeShore475型振動樣品磁強計：磁場靈敏度10??emu@1T場強

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)