參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.高馬二氏小體尺寸測(cè)量：測(cè)定長(zhǎng)度（0.1-50μm）、寬度（0.05-5μm）及長(zhǎng)寬比（1:1至10:1）

2.分布密度統(tǒng)計(jì)：?jiǎn)挝幻娣e內(nèi)小體數(shù)量（10-500個(gè)/mm）

3.形態(tài)學(xué)分類：球形/橢球形/不規(guī)則形占比分析（誤差≤2%）

4.元素組成分析：EDS能譜測(cè)定Fe/Cr/Ni等元素含量偏差（精度0.5wt%）

5.三維重構(gòu)參數(shù)：層析成像獲取空間分布特征（Z軸分辨率≤50nm）

檢測(cè)范圍

1.合金結(jié)構(gòu)鋼：包括42CrMo4、16MnCr5等調(diào)質(zhì)處理材料

2.奧氏體不銹鋼：304/316L系列冷軋板材及管材

3.鋁合金鑄件：A356-T6、ZL104等時(shí)效硬化合金

4.鈦合金鍛件：TC4/TC11等航空航天用雙相合金

5.高溫合金部件：Inconel718、GH4169渦輪盤材料

檢測(cè)方法

ASTME3-11：金相試樣制備標(biāo)準(zhǔn)化流程

ISO643:2019：鋼的顯微組織測(cè)定方法

GB/T13298-2015：金屬顯微組織檢驗(yàn)通則

ASTME1245-03(2016)：定量測(cè)定夾雜物特征規(guī)程

ISO16700:2016：掃描電鏡操作規(guī)范

GB/T18876.2-2006：自動(dòng)圖像分析測(cè)量方法

檢測(cè)設(shè)備

蔡司Sigma500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：配備二次電子/背散射電子探測(cè)器，分辨率1nm@15kV

牛津X-Max50能譜儀：元素分析范圍B-U，探測(cè)限0.1wt%

奧林巴斯GX53金相顯微鏡：最大放大倍數(shù)1500X，配備微分干涉對(duì)比功能

ClemexPE4.0圖像分析系統(tǒng)：支持ASTME112晶粒度自動(dòng)評(píng)級(jí)

WilsonVH1150顯微硬度計(jì)：載荷范圍10-1000g，符合ISO6507標(biāo)準(zhǔn)

徠卡EMTXP精密制樣系統(tǒng)：離子束拋光精度5nm表面粗糙度

布魯克D8ADVANCEX射線衍射儀：Cu靶Kα輻射源，角度精度0.0001

TESCANCLARA熱場(chǎng)發(fā)射電鏡：配備EBSD系統(tǒng)，取向成像分辨率0.1μm

島津EPMA-8050G電子探針：波譜儀定量分析精度0.01%

賽默飛iCAPRQICP-MS：痕量元素檢測(cè)限達(dá)ppt級(jí)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)