參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.表面粗糙度復(fù)現(xiàn)度：Ra≤0.05μm|Rz≤0.4μm|三維形貌偏差≤2%

2.幾何尺寸精度：線性尺寸公差1μm|角度偏差≤0.1|形狀公差等級(jí)IT5

3.光學(xué)特性一致性：透光率偏差≤0.5%|折射率Δn≤0.0003|色差ΔE≤0.8

4.微觀結(jié)構(gòu)保真度：特征結(jié)構(gòu)復(fù)制率≥98%|最小分辨率50nm|邊緣銳度≥85

5.材料成分穩(wěn)定性：元素含量偏差≤0.3wt%|晶體結(jié)構(gòu)匹配度≥95%|相組成誤差≤1.5%

檢測范圍

1.精密模具：注塑模/壓鑄模/沖壓模的型腔復(fù)刻精度驗(yàn)證

2.光學(xué)元件：衍射光柵/菲涅爾透鏡/微棱鏡陣列的波前重構(gòu)檢測

3.微電子器件：半導(dǎo)體晶圓/BGA焊盤/引線框架的圖形轉(zhuǎn)移質(zhì)量評(píng)估

4.文物復(fù)制品：青銅器紋飾/陶瓷釉面/石刻浮雕的微觀形貌比對(duì)

5.生物醫(yī)學(xué)模型：牙齒修復(fù)體/人工關(guān)節(jié)/組織支架的解剖結(jié)構(gòu)還原度測試

檢測方法

ASTME2546-15白光干涉表面形貌測量規(guī)范

ISO25178-2:2022產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面紋理分析

GB/T34879-2017微納尺度幾何量測量方法

ISO10110-8:2019光學(xué)元件表面缺陷評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T13962-2009光學(xué)儀器術(shù)語與測量方法

檢測設(shè)備

1.ZygoNewView9000白光干涉儀：三維形貌測量精度0.1nmRMS

2.KeyenceVR-5000三維輪廓儀：最大測量范圍200200mm

3.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：橫向分辨率0.35μm

4.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡：Z軸重復(fù)性1nm

5.MitutoyoCMMCRYSTA-ApexS三坐標(biāo)機(jī)：空間精度(1.2+L/400)μm

6.NikonMM-400測量顯微鏡：物鏡放大倍率50X-1500X

7.PerkinElmerLambda1050分光光度計(jì)：波長精度0.08nm

8.ZeissSigma500場發(fā)射電鏡：二次電子分辨率0.6nm@15kV

9.RenishawinViaQontor拉曼光譜儀：空間分辨率<1μm

10.Agilent8900ICP-MS質(zhì)譜儀：檢出限ppt級(jí)元素分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)