參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.截止波長（Cut-offwavelength）檢測：測定材料在50%峰值響應(yīng)率對應(yīng)的波長值（單位：μm0.02）

2.光譜響應(yīng)度（Spectralresponsivity）曲線：掃描800-3000nm波段內(nèi)每10nm間隔的響應(yīng)度（mA/W）

3.量子效率衰減點（QEroll-offpoint）：確定量子效率下降至峰值80%時的臨界波長

4.暗電流特性（Darkcurrent）：在300K溫度下測量長波限對應(yīng)電壓的暗電流密度（nA/cm）

5.噪聲等效功率（NEP）：在目標波長下測試最小可探測功率（W/Hz/）

檢測范圍

1.紅外探測器：硫化鉛（PbS）、碲鎘汞（HgCdTe）等光導型探測器

2.光伏材料：III-V族半導體（InGaAs、InSb）外延片

3.光學鍍膜：鍺（Ge）、硅（Si）基長波通濾光片

4.熱成像系統(tǒng)：非制冷型微測輻射熱計焦平面陣列

5.光纖通信器件：1550nm/1625nm波分復用器截止特性

檢測方法

ASTME1028-23：采用單色儀掃描法測定光電探測器光譜響應(yīng)特性

ISO18537:2020：基于傅里葉變換紅外光譜(FTIR)的長波限標定規(guī)程

GB/T13583-2018：光電子器件長波限測試通用技術(shù)要求

GB/T31370.2-2020：半導體光電器件第2部分：長波限測試方法

IEC60747-5-3:2021：分立半導體器件光電參數(shù)測試規(guī)范

檢測設(shè)備

1.珀金埃爾默Lambda1050+紫外可見近紅外分光光度計（波長范圍175-3300nm）

2.BrukerVertex80v真空型傅里葉變換紅外光譜儀（覆蓋20-15000cm?波段）

3.NewportOrielCS2601/4m單色儀系統(tǒng)（配液氮制冷PbS探測器）

4.KeysightB2902A精密源表（10fA分辨率暗電流測試）

5.LabsphereURS-1000D均勻輻射源（黑體溫度范圍300-1200K）

6.ThorlabsPM320E熱電功率計（波長范圍200-11000nm）

7.Agilent4156C半導體參數(shù)分析儀（支持多通道同步測量）

8.JanisST-500低溫恒溫器（溫度控制范圍4K-500K）

9.OphirPD300-3W光電二極管測試頭（3mm孔徑校準基準）

10.HoribaiHR550成像光譜儀（空間分辨率≤5μm）

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)