參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.多面角角度偏差：測量各相鄰面間夾角與理論值的偏差范圍（0.1~2）
2.面平整度誤差：采用平面度公差等級IT0-IT4級標(biāo)準(zhǔn)
3.棱線直線度偏差：允許最大偏移量≤0.02mm/m
4.頂點(diǎn)位置精度：三維坐標(biāo)偏差≤0.05mm
5.表面粗糙度：Ra值控制范圍0.4-3.2μm

檢測范圍

1.金屬精密加工件（鋁合金/鈦合金/不銹鋼）
2.注塑成型塑料模具模芯
3.光學(xué)棱鏡及晶體元件
4.陶瓷基板封裝結(jié)構(gòu)
5.復(fù)合材料航空構(gòu)件

檢測方法

1.ASTME1155-20平面度激光干涉測量法
2.ISO4291:1985圓度與圓柱度誤差評定
3.GB/T1804-2000幾何公差未注公差標(biāo)準(zhǔn)
4.ISO10360-7:2011坐標(biāo)測量機(jī)驗(yàn)收規(guī)范
5.GB/T11337-2004平面度誤差檢測規(guī)范

檢測設(shè)備

1.HexagonGlobalS三坐標(biāo)測量機(jī)：空間測量精度(1.9+L/250)μm
2.ZygoVerifire干涉儀：平面度測量分辨率0.001μm
3.MitutoyoCrysta-ApexS坐標(biāo)機(jī)：配備RDS-C5探針系統(tǒng)
4.FAROFocusS350激光掃描儀：掃描精度0.025mm
5.TaylorHobsonTalyrond585圓度儀：徑向誤差測量0.01μm
6.KeyenceVR-5000三維輪廓儀：Z軸分辨率0.01μm
7.NikonNEXIVVMZ-S6550光學(xué)測量儀：放大倍率35X-4200X
8.ZeissO-INSPECT322復(fù)合式測量機(jī)：CTP技術(shù)融合接觸與非接觸測量
9.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡：景

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)