參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.線性尺寸測(cè)量：分辨率0.1μm~1μm，量程0.5mm~2000mm
2.平面度誤差檢測(cè)：精度0.5μm/m
3.圓度/圓柱度測(cè)量：徑向偏差≤0.3μm
4.表面粗糙度分析：Ra0.01μm~6.3μm
5.螺紋參數(shù)測(cè)定：中徑誤差2μm

檢測(cè)范圍

1.金屬精密零件（軸承/齒輪/模具）
2.光學(xué)元件（透鏡/棱鏡/濾光片）
3.半導(dǎo)體晶圓及封裝基板
4.高分子材料薄膜（厚度10μm~5mm）
5.3D打印成型件（層厚精度5μm）

檢測(cè)方法

1.激光干涉法：ISO/TR230-11:2018
2.白光共焦法：ASTME2544-11a(2021)
3.結(jié)構(gòu)光三維掃描：GB/T26100-2010
4.影像測(cè)量法：GB/T24762-2021
5.相位輪廓術(shù)：ISO25178-604:2013

檢測(cè)設(shè)備

1.KeyenceLM-9000系列激光位移計(jì)：非接觸式線掃描（0.05μm）
2.MitutoyoQV-Apex302影像儀：雙遠(yuǎn)心鏡頭（重復(fù)性0.8μm）
3.HexagonGlobalS三坐標(biāo)機(jī)：接觸式探針（空間精度1.5+L/300μm）
4.ZygoNewView9000白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm
5.RenishawXL-80激光干涉系統(tǒng)：線性測(cè)量精度0.5ppm
6.OlympusLEXTOLS5000共聚焦顯微鏡：XY分辨率120nm
7.GOMATOSQ三維掃描儀：藍(lán)光相位測(cè)量（單幅精度8μm）
8.TaylorHobsonTalyrond585圓度儀：主軸精度0.025μm
9.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：20X物鏡（橫向分辨率0.55μm）
10.NikonNEXIVVMZ-S3020視頻測(cè)量系統(tǒng)：雙軸CNC控制（定位精度1μm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)